[发明专利]预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护有效

专利信息
申请号: 200710190066.1 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN101183786A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 吴崇昊;刘小宝;戴魏 申请(专利权)人: 国电南瑞科技股份有限公司
主分类号: H02H7/26 分类号: H02H7/26
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 代理人: 董建林
地址: 210061江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 预测 ct 线性 传变区 饱和 采样 差动 保护
【权利要求书】:

1.预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于包括以下步骤:

(1)、检测CT线性传变区;

(2)、根据当前已知的CT线性传变区位置,预测一个周波后的线性传变区位置;

(3)、在预测的线性传变区内应用采样值差动判据进行判断;

(4)、如果是区内故障,不存在线性传变区,保护动作;

(5)、对于区外故障,如果区外故障发展到区内,采样值差动将动作出口;如果故障仍然在区外,则继续上述的检测线性传变区预测、预测线性传变区及在预测线性传变区进行采样值差动判断的保护判断流程,如此递推直至保护动作或者启动返回。

2.根据权利要求1所述的预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于所述的线性传变区,如果有连续的N/6以上个采样点被判断为线性点,则判断该段为线性传变区,其中N为一个工频周波的采样点数。

3.根据权利要求1所述的预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于在所述的步骤(3)中,故障发生后第一个线性传变区的判断采用时差法:如果制动电流突变量超过启动门槛,则判为故障启动,并记录启动时间,同时检测差动电流,并记录达到启动门槛的时间;制动电流和差动电流的启动时间差如果大于2ms则判断为区外故障CT饱和;第一个线性传变区之后的线性传变区判据为:id<id0,或id<k1izh,式中id为差电流采样值,id0为预测线性区差电流门槛值,izh为制动电流采样值,k1为预测线性区制动系数;所述的第一个线性传变区为差动电流启动时刻之前的2ms。

4.根据权利要求1所述的预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于选取进行判断的差动动作判断窗长取为N/2,其位置根据预测线性传变区选取:预测线性传变区由已知的线性传变区向后推延N个采样点得出,如果预测线性传变区宽度小于N/2,则以预测线性传变区为中心,宽度左右对称拓展至N/2作为差动动作判断窗;如果预测线性传变区的长度大于N/2,则差动动作判断窗在预测线性传变区内逐点推移做计算,直至差动动作判断窗后沿与预测线性传变区后沿相重合。

5.根据权利要求1所述的预测CT线性传变区的抗CT饱和采样值差动保护,其特征在于所述的采样值差动的判据为比例差动:id>id1id>k2izh,]]>式中id为差电流采样值,id1为采样值差动差电流门槛定值,izh为制动电流采样值,k2为采样值差动制动系数。

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