[发明专利]一种制备ZnO基稀磁半导体纳米线阵列的方法无效

专利信息
申请号: 200710191170.2 申请日: 2007-12-07
公开(公告)号: CN101255600A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 贾冲;陈翌庆;忻敏君;苏勇;周汉义 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: C30B29/16 分类号: C30B29/16;C30B29/62;C30B1/00;C30B30/02
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 代理人: 汪祥虬;何梅生
地址: 230009*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 制备 zno 基稀磁 半导体 纳米 阵列 方法
【权利要求书】:

1、一种制备ZnO基稀磁半导体纳米线阵列的方法,其特征在于:先在双通绝缘模板的一面采用蒸镀或溅射的方法制备一层导电物质,然后将其浸没在水或M-Zn合金电镀液中,在低于1Pa的压力下抽真空5~60min;然后将抽好真空的模板上有导电物质的一面做阴极,采用石墨或铂做阳极,以0.1~10mA/cm2进行M-Zn合金的电化学共沉积10min~10h;将沉积好的样品在300~600℃的氧气或空气中保温不少于30h,即得到ZnO基稀磁半导体纳米线阵列;所述M-Zn合金中的M=Fe、Co和/或Ni。

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