[发明专利]射频同轴电缆组件检测夹具及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于微波通讯器件检测的装置，具体是一种射频同轴连接器检测夹具及其使用方法。

背景技术

对于常规的射频同轴电缆组件一般包括一段同轴电缆和连接在同轴电缆端部的射频同轴连接器，如果其两端都连接有射频同轴连接器，则可以通过连接器与检测设备连接进行测试，获得同轴电缆的电压驻波比性能。但在某些应用场合下，射频同轴电缆组件只要求一端连接射频同轴连接器，另一端为开放式电缆端头。对于这种结构的射频同轴电缆组件，生产企业在生产过程中可以将两个产品做成相连接的整体，测试合格后再剪断，但作为产品的用户方，就无法验证其性能。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种能够较方便地对仅有一端带连接器的射频同轴电缆组件进行检测的射频同轴电缆组件检测夹具。

本发明的射频同轴电缆组件检测夹具包括有互不连接的中心导体和外导体；所述中心导体的两端开有可供同轴电缆的中心导体插入的插接孔；所述外导体由上片和下片两部分组成，上片和下片的内侧开有纵向贯通的相对的凹槽，上、下两片外导体之间通过紧固件连接，上片和下片内侧的凹槽可以夹持在同轴电缆的外导体上。

所述的中心导体上的插接孔的侧壁上开有内外贯通的通孔，这样在对中心导体与同轴电缆中心导体进行焊接时，插接孔内的受热气体较为通畅地排出，从而可保证焊料充分流动，以提高焊接连接的可靠性。

本发明夹具的使用方法是：将两件相同规格的一端带有射频同轴连接器的待测同轴电缆组件一同测试；测试前首先将两件射频同轴电缆组件的开放端头处的电缆中心导体分别从夹具的中心导体两端的插接孔插入连接，再将外导体的上片和下片对合，使两个电缆端头的外导体被夹持在上、下片内侧的凹槽之间，然后用紧固件将上片和下片连接固定；连接完成后通过两件射频同轴电缆组件上的射频同轴连接器与检测设备连接进行检测。

上述的检测方法中，电缆中心导体与夹具的中心导体之间通过焊接固定，即，连接时，先在夹具中心导体的插接孔中放入焊料，再将电缆中心导体插入，然后通过焊接设备加热熔化焊料进行焊接连接。

本发明的夹具结构简单、使用方便；经过实际验证，使用本发明的夹具及方法对同射频轴电缆组件进行检测，其检测结果与未剪断前的整线测试结果基本相同，证明了其检测结果的准确性。

附图说明

图1是本发明的夹具的分解结构示意图；

图2是本发明的夹具在使用过程中的分解结构示意图；

图3是本发明的夹具在使用状态剖面放大结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，本发明的夹具包括中心导体1和外导体2，外导体2由上片21和下片22两部分组成，上片与下片之间通过紧固件3(螺钉)相连接，上片和下片的内侧开有相对的凹槽23。

如图3所示，中心导体1的两端开有可供射频同轴电缆组件4的电缆中心导体41插入的插接孔11，在插接孔11的侧壁上开有内外贯通的通孔12。

本发明夹具的使用方法如图2、图3所示，将两件待测射频同轴电缆组件4的开放端头处的电缆中心导体41分别从夹具的中心导体1两端的插接孔11插入并焊接连接，再将外导体2的上片21和下片22对合，使两个电缆端头的外导体42被夹持在上、下片内侧的凹槽23之间，然后用紧固件(螺钉)将上片和下片连接固定；连接完成后通过两件待测射频同轴电缆组件4上的射频同轴连接器43与检测设备连接进行检测。