[发明专利]一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置有效

专利信息
申请号: 200710194086.6 申请日: 2003-09-26
公开(公告)号: CN101183550A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 朴容徹;金成大 申请(专利权)人: LG电子株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 钟强;谷惠敏
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 一次性 写入 光盘 用于 管理 缺陷 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种管理记录介质上的缺陷区的方法,所述记录介质包括数据区和导入区,所述数据区包括至少一个备用区,所述方法包括:

(a)检测在所述记录介质的所述数据区内缺陷区的存在;

(b)如果检测到所述缺陷区,则把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的置换区中;以及

(c)把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述记录介质上的多个缺陷管理区之一中;

其中所述记录介质上的这些缺陷管理区被分配在所述记录介质的所述导入区上,并位于所述记录介质的所述至少一个备用区内。

2.如权利要求1所述的方法,其中在写步骤(c)中,所述缺陷管理信息包括多个缺陷列表。

3.如权利要求2所述的方法,其中所述每一个缺陷列表包括当前缺陷列表和任何以前缺陷列表,使得所述每一个缺陷列表变成累加缺陷列表。

4.如权利要求1所述的方法,其中所述至少一个备用区是位于所述数据区的前面部分上的内备用区,或者是位于所述数据区的末端上的外备用区。

5.如权利要求1所述的方法,其中所述缺陷管理信息包括有关所述缺陷区的位置信息和有关在写步骤(b)中使用的所述备用区的所述置换区的位置信息。

6.如权利要求1所述的方法,还包括:

(d)把盘定义结构信息写到所述导入区中,所述盘定义结构信息包括与所述缺陷管理信息相关的位置信息。

7.一种记录介质,包括:

包括记录区和至少一个备用区的数据区,每一个所述至少一个备用区包括置换区和缺陷管理区,

包括另一缺陷管理区的导入区,

在所述记录介质中,如果检测到在所述记录区内的缺陷区,则把写在所述缺陷区中的数据写到在所述至少一个备用区内的所述置换区中,并把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到在所述至少一个备用区和所述导入区内的缺陷管理区的一个中。

8.一种管理在记录介质上的缺陷区的装置,所述记录介质包括数据区和导入区,所述数据区包括至少一个备用区,所述装置包括:

拾取器,将数据记录在所述记录介质上和从所述记录介质再现数据;以及

控制器,控制所述拾取器检测在所述记录介质的所述数据区内缺陷区的存在,如果检测到所述缺陷区,则控制所述拾取器把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的置换区中,以及控制所述拾取器把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述记录介质上的多个缺陷管理区之一中,

其中所述记录介质上的这些缺陷管理区被分配在所述记录介质的所述导入区上,并位于所述记录介质的所述至少一个备用区内。

9.如权利要求8所述的装置,其中所述缺陷管理信息包括多个缺陷列表。

10.如权利要求9所述的装置,其中所述每一个缺陷列表包括当前缺陷列表和任何以前缺陷列表,使得所述每一个缺陷列表变成累加缺陷列表。    

11.如权利要求8所述的装置,其中所述至少一个备用区是位于所述数据区的前面部分上的内备用区,或者是位于所述数据区的末端上的外备用区。

12.如权利要求8所述的装置,其中所述缺陷管理信息包括有关所述缺陷区的位置信息和有关所述备用区的所述置换区的位置信息。

13.如权利要求8所述的装置,其中所述导入区还包括盘定义结构信息,所述盘定义结构信息包括与所述缺陷管理信息相关的位置信息。

14.一种管理记录介质上的缺陷区的方法,所述记录介质包括数据区和导入区,所述数据区包括记录区和至少一个备用区,所述方法包括以下步骤:

(a)检测在所述记录介质的所述记录区内缺陷区的存在;

(b)如果检测到所述缺陷区,则把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的一个中;

(c)在所述记录区内分配缺陷管理区;以及

(d)把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述分配的缺陷管理区中。

15.如权利要求14所述的方法,还包括:

(e)把盘定义结构信息写到所述导入区中,所述盘定义结构信息包括在所述记录区内分配的缺陷管理区的位置信息。

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