[发明专利]睑检测装置、睑检测方法及其程序有效
申请号: | 200710194369.0 | 申请日: | 2007-12-26 |
公开(公告)号: | CN101209207A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
发明(设计)人: | 足立淳;浅野义;大上健一;蜷川勇二;小岛真一 | 申请(专利权)人: | 爱信精机株式会社 |
主分类号: | A61B5/18 | 分类号: | A61B5/18;A61B3/14 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 方法 及其 程序 | ||
技术领域
本发明涉及一种从面部图像检测上下睑的睑检测装置、睑检测方法及其程序。
背景技术
已有基于面部图像判断眼睛的状态、并基于所获得得信息测定该人的视线方向、根据睑的开闭度推测该人的觉醒程度的方法。为了判断眼睛的状态,需要正确检测面部图像中的眼部。还有,为了检测睑的开闭度,需要正确检测出睑。
例如,在专利文献1中,记载有从面部图像检测虹膜部、从而判断驾驶员的状态的技术。在专利文献1的技术中,在面部图像内设定检测虹膜部的区域,在该区域内检测暗区域的面积,同时对应于该面积,对候选点进行加权统计处理,检测虹膜中心位置。
[专利文献1]日本专利特开平03-202045号公报
众所周知,在拍摄人物照片时,会出现红眼现象。所谓红眼现象,是因为在暗处瞳孔(pupil)放大,光进入瞳孔后,在布有眼球内部的毛细血管的脉络膜(choroidea/choroids/choroids coat)层发生反射,这些光再从瞳孔出来到达照片所出现的现象。当利用闪光灯照明时,由于瞳孔的收缩较慢,因而出现红眼现象。而在连续照明时,瞳孔收缩,红眼现象消失。
在夜间对驾驶员进行拍摄时,由于利用可见光照明会影响驾驶,从而利用例如近红外光进行照明。而在近红外光下瞳孔不会收缩,从而有时会连续出现红眼现象。
在过去的技术中,发生红眼现象时,瞳孔为明区域,从而不能利用暗区域检测虹膜部。当检测出红眼现象的瞳孔时,有时会将瞳孔的边缘误认为睑。
本发明考虑到上述状况,其目的在于提供即使在出现红眼现象时也能够正确检测睑的装置。
发明内容
为实现上述目的,与本发明的第1观点有关的睑检测装置的特征在于:具有获取面部图像的图像获取机构、从上述面部图像中感知虹膜部的空间的明暗变化、检测从瞳孔入射的光反射后在上述面部图像中产生的红眼现象的红眼检测机构、和从上述面部图像基于明暗界限即边缘检测上睑和下睑的睑检测机构,当利用上述红眼检测机构检测到了红眼现象时,上述睑检测机构将作为上述红眼现象的瞳孔的边缘从上睑和下睑中排除。
希望上述睑检测机构,当利用上述红眼检测机构检测到了红眼现象时,将上述红眼现象的瞳孔的上侧边缘从下睑中排除。
另外,希望上述睑检测机构,当利用上述红眼检测机构检测到了红眼现象时,将上述红眼现象的瞳孔的下侧边缘从上睑中排除。
希望上述红眼检测机构,将上述面部图像中的与规定的明暗像素图案相符的部分检测为作为上述红眼现象的瞳孔。
希望上述红眼检测机构的规定的明暗像素图案,由中心部的明区域和配置在其周围的暗区域构成。
上述红眼检测机构也可以将上述面部图像中与多个不同的规定的明暗像素图案的任一个相符的部分,检测为作为上述红眼现象的瞳孔。
或者,上述红眼检测机构也可以将上述面部图像中的明暗界限即边缘的形状与规定的条件相符的部分检测为上述红眼现象的瞳孔。
希望还具有检测周围亮度的照度检测机构、和基于上述照度检测机构检测的周围的亮度、判断是否利用上述红眼检测机构检测上述红眼现象的红眼检测运行判断机构。
尤其是上述红眼检测运行判断机构,当利用上述照度检测机构检测的周围的亮度大于规定的值时,判断为不利用上述红眼检测机构检测上述红眼现象。
另外,上述红眼检测运行判断机构,当利用上述照度检测机构检测的周围的亮度低于规定的值时,判断为利用上述红眼检测机构检测上述红眼现象。
希望上述睑检测机构具有从上述面部图像中基于明暗界限即边缘检测候选的上睑和下睑的候选睑检测机构,当利用上述红眼检测机构检测到了红眼现象时,将作为上述红眼现象的瞳孔的边缘从候选的上睑和下睑中排除。
与本发明的第2观点有关的睑检测方法的特征在于:具有从面部图像中感知虹膜部的空间的明暗变化、检测从瞳孔入射的光反射后在上述面部图像中产生的红眼现象的红眼检测步骤、从上述面部图像基于明暗界限即边缘检测上睑和下睑的睑检测步骤、和当在上述红眼检测步骤检测到了红眼现象时、将作为上述红眼现象的瞳孔的边缘从在上述睑检测步骤检测出的上睑和下睑中排除的红眼瞳孔排除步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱信精机株式会社,未经爱信精机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710194369.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半导体制造工艺配方管理方法
- 下一篇:半导体模块