[发明专利]具有锁码功能的微控制器锁码电路及锁码方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子领域，尤其涉及一种具有锁码功能的微控制器锁码电路及锁码方法。

背景技术

微控制器(Micro Controller Unit，MCU)目前在电子产业上的应用非常广泛，微控制器的主要组成架构是：中央处理器、存储器、输出输入单元、中断器、振荡器以及计时器。

微控制器根据不同的功能可区分为：

只读微控制器(Read-only memory MCU，ROM MCU)

单次写入微控制器(0ne Time Programming MCU，OTP MCU)

多次写入微控制器(Multi-Times Programming MCU，MTP MCU)(又称Flash MCU)

请参考图1，图1为已知OTP MCU的操作时序图，其中，OTP MCU包括一烧录脚，其中烧录脚是用于接收一烧录脚电压，OTP MCU在通过烧录器烧录时，会先将烧录脚电压由零伏特升高到空白测试电压值(本实施例的空白测试电压值为5V，其他实施例中可以为其他伏特数)进行约100～300毫秒(本实施例中为100～300毫秒，其他实施例可以为其他秒数)之空白检测(blank check)以确定OTP MCU内部的值是否为预设值(default value)，若OTPMCU内部的值为预设值，则表示OTP MCU为空白而可以进行烧录。在本实施例中预设值为0，在其他实施例中，预设值为1、ff....等。

在OTP MCU通过空白测试后，烧录脚电压由空白测试电压值降至0V的低点并保持0V若干毫秒(本实施例中是1～4毫秒，其他实施例可以为其他秒数)，之后烧录脚电压由0V再提高到烧录电压值(本实施例中，烧录电压值为12.5V，但在其他实施例中，烧录电压值可能不同)。在烧录脚电压值由空白测试电压值开始下降、一直到烧录脚电压到达烧录电压值的期间，称为重置期间(Reset Period)。

OTP MCU在重置期间一开始，便开始将选项(Option)的数据载入到OTPMCU中。所谓的选项是指内建有OTP MCU的电子产品所提供给使用者选择各种不同功能的选择项目。例如，在内建有16位OTP MCU的手机中，使用者可以选择不同的焦距选项以决定手机拍照的焦距。

OTP MCU在重置期间后，OTP MCU的烧录脚电压升高到烧录电压值(本发明为12.5V)后经过约1～300毫秒的稳定观察期(本实施例中为1～300毫秒，但其他实施例可以为其他秒数)以确定其稳定与否，之后便开始下一阶段的步骤。在本OTP MCU的实施例中，稳定观察期之后OTP MCU会先送出程序计数器(Program counter，PC)10，接着才进行程序码(Code)9的读写。

请参考图2，图2为已知MTP MCU的操作时序图。当MCU型态由上述的OTP MCU改为MTP MCU时，MTP MCU同样会有烧录脚电压为5V约100～300毫秒的空白检测期、重置期间、12.5V约1～300毫秒的稳定观察期。但是MTP MCU有别于OTP MCU的是，MTP MCU在稳定观察期之后，会先送出匹配参数(Match Pattern)11，接着会先送出程序计数器(Programcounter，PC)10，接着才进行程序码(Code)9的读写。

上述OTP MCU及MTP MCU都具有锁定(lock)及部分锁定(partial lock)的功能以防止盗拷。虽然如此，因为已知之锁码机制是在载入选项之后才执行，因此在空白测试之后烧录脚电压由5伏特处向下降开始进行重置时，欲盗拷者可通过改变锁定及部分锁定所在的位，使锁定及部分锁定无法被执行，而盗拷者便得以在OTP MCU或MTP MCU将烧录脚电压升高进行程序码载入时进行程序码盗拷。

综上所述，当前需要一种具有锁码功能的微控制器锁码电路的技术方案。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种具有锁码功能的微控制器锁码电路及锁码方法，解决了目前在空白测试之后烧录脚电压由高开始降低而进行重置时，欲盗拷者可通过改变锁定及部分锁定所在的位，使锁定及部分锁定无法被执行，而使盗拷者可以在烧录脚电压升高进行程序码载入时进行程序码盗拷的问题。

为了解决上述问题，本发明提供了一种具有锁码功能的微控制器锁码电路，

用于一微控制器，该微控制器包括至少一程序码，且所述微控制器锁码电路包括一预设金钥，该微控制器锁码电路于一重置期间开始后接收一输入金钥并比对该预设金钥及该输入金钥是否相同，其中：