[发明专利]发光二极管寿命试验装置及方法有效

专利信息
申请号: 200710196274.2 申请日: 2007-12-07
公开(公告)号: CN101452044A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 陈秋伶;黄胜邦;黄斐章 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王志森
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 寿命 试验装置 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管寿命试验装置,包括:

一炉体,具有一炉温,该炉体内供放置一发光二极管,其中,该炉体在一第一期间内逐渐地改变该炉温,在一第二期间内维持该炉温在一设定炉温;

一电流源,用以提供一第一电流和一第二电流给该发光二极管;

一电压计,用以测量该发光二极管的正向电压;

一控制模块,用以控制该电流源输出该第一电流或该第二电流给该发光二极管,且控制该电压计测量该发光二极管的该正向电压,以及

一处理模块,根据该发光二极管的正向电压、该发光二极管的正向电压与该炉温的一变动关系式以计算该发光二极管的结温度。

2.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,其中,在该第一期间内,该电流源在至少两温度点上提供该第一电流给该发光二极管,且该发光二极管对应产生至少两第一正向电压。

3.如权利要求2所述的发光二极管寿命试验装置,其中,该处理模块根据至少两该温度点以及对应的至少两该第一正向电压以计算出该变动关系式。

4.如权利要求3所述的发光二极管寿命试验装置,其中,该变动关系式为一次方程式。

5.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,其中,该变动关系式为外部输入数据或已经存在该处理模块中。

6.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,其中,在该第一期间前该炉温维持在常温或在该第一期间内或在该第二期间时,该电流源提供该第一电流给该发光二极管,且该发光二极管产生一初始正向电压。

7.如权利要求6所述的发光二极管寿命试验装置,其中,在该第二期间内,该电流源切换为提供该第二电流给该发光二极管,且每隔一预定期间切换为提供该第一电流给该发光二极管以产生一第二正向电压。

8.如权利要求7所述的发光二极管寿命试验装置,其中,每隔该预定期间,该处理模块根据该变动关系式、对应的该第二正向电压、该初始正向电压以及对应的该炉温以计算该结温度。

9.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,其中,在第二期间内,该电流源切换为提供该第二电流给该发光二极管,且每隔一预定期间切换为提供该第一电流给该发光二极管以产生一第二正向电压。

10.如权利要求9所述的发光二极管寿命试验装置,其中,每隔该预定期间,该处理模块根据该变动关系式及对应的该第二正向电压以计算该结温度。

11.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,其中该电流源所提供的该第二电流可为直流形式或脉冲形式。

12.如权利要求1所述的发光二极管寿命试验装置,还包括一光检测模块,用以多次测试该发光二极管的发光量及光谱特性。

13.如权利要求12所述的发光二极管寿命试验装置,其中,该处理模块可计算、存储、以及显示该发光二极管的该变动关系式、该发光二极管的正向电压、该结温度以及该发光二极管的发光量与光谱特性。

14.如权利要求12所述的发光二极管寿命试验装置,其中,该处理模块可根据该发光二极管的发光量与光谱特性以及该结温度,来计算、存储、以及显示该发光二极管的寿命值。

15.一种发光二极管寿命试验装置,适用于多个发光二极管,包括:

一炉体,具有一炉温,该炉体内供放置多个发光二极管,其中,该炉体在一第一期间内逐渐地改变该炉温,在一第二期间内维持该炉温在一设定炉温;

一控制模块,用以提供一第一电流控制信号、一第二电流控制信号、一电压检测信号、及一切换信号;

一第一电流源,用以根据该第一电流控制信号而提供一第一电流;

一第二电流源,用以根据该第二电流控制信号而提供多个第二电流,其中,每一该第二电流对应该多个发光二极管中的一者;

一电源切换器,用以根据该切换信号而将该第一电流或该多个第二电流输出给该多个发光二极管;

一电压计,用以根据该电压检测信号来测量该多个发光二极管的正向电压;以及

一处理模块;

其中,对于每一该发光二极管,该处理模块根据该发光二极管的正向电压、该发光二极管的正向电压与该炉温的一变动关系式以计算该发光二极管的结温度。

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