[发明专利]超声波检查方法有效

专利信息
申请号: 200710196418.4 申请日: 2007-11-28
公开(公告)号: CN101191786A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: D·T·麦克劳什兰;B·E·考克斯 申请(专利权)人: BWX技术股份有限公司
主分类号: G01N29/26 分类号: G01N29/26;G01N29/04;G01B17/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李玲
地址: 美国弗*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 超声波 检查 方法
【权利要求书】:

1.一种用超声波检查具有不平整表面的零部件的方法,该方法包括:

a.在多元件阵列超声波换能器和零部件之间设置厚度至少是几个超声波波长的流体耦合;

b.扫描所述零部件,使各个单独的超声波元件每次发射一个;

c.记录从所述阵列中的各个元件处接收到的反射的超声波波形;

d.处理所收集到的超声波波形数据阵列,以测量所述零部件的表面轮廓;

e.基于所测量到的表面轮廓,作为探头位置的函数,来计算信号处理参数,从而消除波束的失真;以及

f.使用最新计算的信号处理参数来处理所收集到的数据阵列,从而校正所述零部件的表面不规则并获得所述零部件内部反射器的检查。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,

a.使用横向上相互分离的第一和第二多元件阵列超声波探头来进行检查;

b.第一超声波探头被用于将超声波脉冲发射到所述耦合液体和所述零部件的内部,并且接收来自所述零部件表面的超声波反射,从而映射出所述零部件的表面轮廓;以及

c.第二超声波探头被用于接收来自所述零部件内部的超声波反射。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在处理所收集到的数据阵列的步骤中,采用合成孔径聚焦技术。

4.一种用超声波检查具有不平整表面的零部件的方法,该方法包括:

a.在多元件超声波阵列换能器和零部件之间设置厚度至少是几个超声波波长的流体耦合;

b.作为编码的超声波探头位置的函数来测量所述零部件的两维表面轮廓;

c.基于所测量到的表面轮廓,作为编码的超声波探头位置的函数来计算信号处理参数,从而消除波束失真;

d.将所计算的信号处理参数下载到超声波仪器中;以及

e.在使用下载的信号处理参数的情况下根据编码的超声波阵列探头位置,用超声波阵列换能器来扫描零部件,从而检查零部件的内部。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用机械式划针来确定的。

6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用基于激光的技术来确定的。

7.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用检查零部件内部所用的相同的超声波换能器仪器来确定的。

8.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所使用的超声波仪器是多元件相位阵列超声波仪器。

9.如权利要求4所述的方法,其特征在于,

a.使用横向上相互分离的第一和第二多元件阵列超声波探头来进行检查;

b.第一超声波探头被用于将超声波脉冲发射到耦合液体和零部件的内部,并且接收来自零部件表面的超声波反射,从而映射出零部件的表面轮廓;以及

c.第二超声波探头被用于接收来自零部件内部的超声波反射。

10.一种用超声波检查具有不平整表面的零部件的方法,该方法包括:

a.在多元件阵列超声波换能器和零部件之间设置厚度至少是几个超声波波长的流体耦合;

b.根据编码的超声波探头位置来测量零部件的两维表面轮廓;

c.在测量零部件的两维表面轮廓的同时,使超声波换能器中的各个单独的元件每次发射一个;

d.针对超声波换能器中的各个单独的元件,记录所反射的超声波波形;

e.基于所测量到的表面轮廓,作为编码的超声波探头位置的函数,来计算信号处理参数,从而消除波束失真;以及

f.使用最新计算的信号处理参数来处理所收集到的来自各个单独的换能器元件的数据阵列,从而校正零部件中的表面不规则。

11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用机械式划针来确定的。

12.如权利要求10所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用基于激光的技术来确定的。

13.如权利要求10所述的方法,其特征在于,所述零部件的两维表面轮廓是使用超声波技术来确定的。

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