[发明专利]共享标准校正表的平行测试系统及方法有效
申请号: | 200710196560.9 | 申请日: | 2007-11-29 |
公开(公告)号: | CN101453279A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 赵高峰 | 申请(专利权)人: | 纮华电子科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;G01R31/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁 挥;祁建国 |
地址: | 201801上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 共享 标准 校正 平行 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种平行测试系统及方法,特别指一种共享标准校正表的平行 测试系统及方法。
背景技术
随着科技产业的快速发展,电子产品日益更新且产量逐年都在增加,而我 们都知道产品出厂前的测试验证是决定产品出货质量重要的一环,但也是影响 整个生产线生产流程速度的重要原因。
以高频通信模块为例,由于高频通信模块中必须储存有一校正表方能进行 运作,其中校正表所含的信息通常为有关路径损耗、放大器增益及频率信号等 校正参数,而在高频通信模块出厂前就必须将校正表烧录至模块内的内存,以 使模块能根据校正表中的参数正确工作。
而量测校正表中所有的校正参数需经过繁杂的校正程序,且整个校正程序 十分地耗时。以目前的现有技术来看,会预设先以一测试产线中前一待测物的 校正表来当作下一待测物的预测校正表。如果预测的校正表能通过测试条件, 则将预测的校正表写入该待测物模块内的内存中;而如果无法通过测试条件, 则重新进行校正程序。并且在测试足够数量的待测物与多次的校正程序之后, 校正表将会收敛至一稳定值。而也就因为每个模块都必须要经过此一测试验证 流程,使得高频通信模块厂商的出货量常因测试时间过长而无法符合客户的需 求,只能一味地增置测试产线来解决。
而由于上述中各测试产线仍是各自单独运作以各自产生最后收敛的校正 表,因此各测试产线所必须耗费的校正表校正时间仍是固定而无法有效地减 少。如此一来,不仅还是必须耗费许多校正测试时间来让校正表收敛,更必须 为了提升产能而提高整个测试成本。
因此,要如何有效地减少校正表的校正收敛时间,以在不需增加测试成本 的条件下即可提升产能,便是目前值得加以思考的一点。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于通过一种共享标准校正表的平行测试系 统及方法,通过一服务器来统合各测试产线同时运作时所产生的校正数据,并 且根据待测物的数量来进行运算,以较快累积数据进行校正表的收敛而更新出 一标准校正表。进而便可将该标准校正表再提供给各测试产线使用,以对之后 的待测物进行测试。借此,以达到较快获得经校正收敛过的标准校正表的目的, 而能进一步提升产品的生产产能。
为了实现上述目的,本发明提供一种共享标准校正表的平行测试系统, 其包括:一储存单元、多个测试平台及一服务器。其中,储存单元用以储存该 标准校正表,而测试平台为实行测试的设备,用以依据该标准校正表来分别测 试一待测物。而服务器则连接该储存单元及该些测试平台,用以提供该标准校 正表给该些测试平台,并进行累积记录该些测试平台在测试每一待测物之后所 产生的一校正数据,进而服务器再将该校正数据进行一加权运算以更新该标准 校正表。
为了实现上述目的,本发明另提供一种共享标准校正表的平行测试方法, 其步骤包括:首先,在多个测试平台分别提供一待测物,接着该些测试平台分 别进行取得标准校正表。于是,该些测试平台便依据该标准校正表来分别测试 各自的待测物,并分别产生一校正数据。进而进行累积记录该校正数据,并通 过执行一加权运算以更新该标准校正表。借此,通过重复上述步骤,以加快校 正收敛该标准校正表而大幅地节省测试流程所需的时间。
采用本发明,可以将该标准校正表再提供给各测试产线使用,以对之后的 待测物进行测试。借此,以达到较快获得经校正收敛过的标准校正表的目的, 而能进一步提升产品的生产产能。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的 限定。
附图说明
图1本发明共享标准校正表的平行测试系统的实施例方块图;及
图2本发明共享标准校正表的平行测试方法的实施例流程图。
其中,附图标记:
10:储存单元 101:标准校正表
11:服务器 12:测试平台
120:待测物 121:测试仪器
122:控制计算机
具体实施方式
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