[发明专利]超声线阵偏转成像的扫描变换插值方法和装置

权利要求书

1.一种用于超声线阵偏转成像的扫描变换插值方法，包括下列 步骤：

将显示坐标系下的坐标点进行坐标变换，将其转换为采集数据坐 标系下的待插值坐标点；

其特征在于，所述方法还包括下列步骤：

根据扫描线的偏转角度，计算所述待插值坐标点的点扩散函数主 方向与最邻近两条扫描线相交的两个交点的坐标；

根据所述两个交点的坐标，确定所述最邻近两条扫描线上与所述 两个交点最接近的四个插值点；

利用所述最接近的四个插值点，沿扫描线方向插值得到所述两个 交点的值；

利用所述两个交点的值，沿所述待插值坐标点的点扩散函数主方 向插值得到所述待插值坐标点的值。

2.如权利要求1所述的用于超声线阵偏转成像的扫描变换插值方 法，其特征在于，按照下列公式计算所述待插值坐标点的点扩散函数 主方向与最邻近两条扫描线相交的两个交点的坐标：

ER′=R+θf×sin(δ)×KEθ′=θi]]>

FR′=R+(1-θf)×sin(δ)×KFθ′=θi+1]]>

K＝unit_θ/unit_R

其中待插值点的坐标为G′(R，θ)，所述两个交点的坐标分别为 E′(E′_R，E′_θ)和F′(F′_R，F′_θ)，unit_θ为θ方向的单位采样物理间距，unit_R为R 方向的采样物理间距，δ为扫描线的偏转角度，θ_i为所述两个交点之一 E′(E′_R，E′_θ)所在扫描线上的点在θ方向的坐标，θ_f为待插值点G′(R，θ)与 所述两个交点之一E′(E′_R，E′_θ)所在扫描线上的和待插值点G′(R，θ)同深 度的点在θ方向上的距离。