[发明专利]电子仪器自动检定/校准/测试平台无效

专利信息
申请号: 200710199253.6 申请日: 2007-12-17
公开(公告)号: CN101206130A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 陈耀明;方雪梅;方明;魏亚利;龚朝阳;张晓博 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01R35/00;G05B23/02
代理公司: 西安创知专利事务所 代理人: 谭文琰
地址: 710068陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 电子仪器 自动 检定 校准 测试 平台
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电子仪器自动检定/校准/测试平台。

背景技术

随着科学技术的高速发展,电子测量仪器也在不断地向数字化、智能化、高度集成化、可程控化、多功能化发展;许多仪器内置计算机主板,多项功能并存,并且配备多种通讯接口;计算机技术、传感器技术的应用,使计量测试仪器的专业界限也逐渐趋于模糊,一台仪器就象一个实验室。如FLUKE的5520多功能源可以校准电磁专业的多用表、功率表、电流表、电力谐波分析仪等,也能校准热工专业的温度计、数据采集器等,还能作为无线电专业的电子电压表、示波器的测量标准,如配上专用测量探头还可以测量压力。

因此,常规的手动检定/校准工作面临两大难题:

(1)测量功能多、数据量大;导致标准配置复杂,从而提高了对人员的要求(可能跨专业)。

(2)存在难于实现或不可能实现的检定/校准项目(相同的测量标准、人员)。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对现有技术的不足,提供一种电子仪器自动检定/校准/测试平台,达到智能化的测试流程控制。

为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种电子仪器自动检定/校准/测试平台,包括以下模块:

仪器接口模块:用于实现计算机和电子仪器的I/O通讯功能;

数据库管理模块:用于保存、维护电子仪器的相关信息,组织、管理自动检定/校准过程用到的信息;

检定/校准/测试流程编辑模块:提供用户输入或修改检定/校准/测试流程内容的功能,为检定/校准/测试流程的执行做准备;

流程解释执行模块:用于根据所述检定/校准/测试流程记录的步骤,对连接的电子仪器,包括测量标准仪器和被检定/校准仪器发送程控指令,控制测量标准仪器对被检定/校准仪器的输出信号进行测量,并对测量结果进行记录;

程控指令测试模块:提供接入电子仪器扫描功能和系统通讯路径管理、资源属性设置及读取、资源事件管理和仪器指令/数据读写功能;

数据处理输出模块:用于实现所述测量结果的运算、技术要求符合性判断与测量结果的不确定度的计算和输出;

所述仪器接口模块外接电子仪器,仪器接口模块将检测到的电子仪器信息传递给检定/校准/测试流程编辑模块、流程解释执行模块和程控指令测试模块并且接收返回信息,检定/校准/测试流程编辑模块、流程解释执行模块和程控指令测试模块的输出端和数据处理输出模块连接,对检定/校准/测试过程进行处理并将结果输出给输出模块,检定/校准/测试流程编辑模块、流程解释执行模块和程控指令测试模块和数据库管理模块连接,用于在检定/校准/测试过程中设置和调用数据库管理模块中的数据信息。

本发明电子仪器自动检定/校准/测试平台,所述仪器接口模块采用VISAI/O函数库实现对GPIB、RS232、TCP/IP和USB接口的兼容。

本发明电子仪器自动检定/校准/测试平台,所述数据库管理模块中保存电子仪器设备资料、用户设定的检定/校准/测试流程、用户设定的测量功能和检定/校准方法的信息。

所述接入电子仪器扫描功能为:程控指令测试模块打开与默认资源管理器的会话通道,查询系统中所有与指定接口类型符合的设备资源,得到设备个数和设备地址描述字符串数组,根据设备地址描述字符串建立一个设备的会话通道,取出下一个设备的地址描述字符串,直到取出所有设备的地址描述字符串,建立会话通道过程结束。

所述平台通过局域网实现共享。

因此,通过上述技术方案可以达到以下效果:

1、解决了GPIB接口卡及多种其他接口(RS232、TCP/IP、USB)的兼容问题,特别是解决了通过计算机网络来操控测量标准或被测仪器的能力;

2、支持局域网联机共享且具有与用户计量管理数据库对接的能力;

3、解决了不同测量标准、不同被测仪器的兼容问题,系统软件和具体仪器资源无关、特别是与检定规程或校准方法无关;

4、系统具有自动管理检测系统计算机资源(在用仪器型号及测量系统中各仪器地址的能力);

5、操作人员无须学习任何编程语言就可以设计测试流程开发新的自动检定/校准/测试系统,操作方便,具有完整的证书输出能力,且用户可以修改测量结果的输出格式;

6、自动测量不确定度。

附图说明

图1为本发明电子仪器自动检定/校准/测试系统框图;

图2为本发明测试平台模块结构示意图;

图3为本发明测试平台检定校准过程流程图;

图4为本发明测试平台接入仪器扫描流程图;

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