[发明专利]PCIE 测试卡无效
申请号: | 200710200367.8 | 申请日: | 2007-03-30 |
公开(公告)号: | CN101276304A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 叶宗德;张俐莹 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pcie 测试 | ||
1. 一种PCIE测试卡,包括一控制模块、一总线仲裁器、一指示装置、至少两个不同规格的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线,所述PCIE接脚用于与待测主板对应规格的PCIE插槽插接,所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据,所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的PCIE模式,所述指示装置与所述控制模块电性连接,用于显示测试是否通过。
2. 如权利要求1所述的PCIE测试卡,其特征在于:所述不同规格的PCIE接脚包括一PCIEx1接脚、一PCIEx4接脚、一PCIEx8接脚及一PCIEx16接脚,所述PCIE总线对应所述不同规格的PCIE接脚包括一PCIEx1总线、一PCIEx4总线、一PCIEx8总线及一PCIEx16总线。
3. 如权利要求2所述的PCIE测试卡,其特征在于:所述PCIEx1接脚、PCIEx4接脚、PCIEx8接脚及PCIEx16接脚分别设于所述PCIE测试卡的四边。
4. 如权利要求2所述的PCIE测试卡,其特征在于:所述指示装置为设于所述PCIE测试卡的若干发光二极管,相应个数的发光二极管对应相应规格的PCIE接脚,测试时相应个数的发光二极管发光则表示相应规格的PCIE接脚与待测PCIE插槽连接正常。
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