[发明专利]一种集成电路引线框架铜带及其制作方法无效

专利信息
申请号: 200710200576.2 申请日: 2007-04-30
公开(公告)号: CN101299424A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 朱伟康;姚广印;李再新;张浩;赵明;夏君;周跃;李建琼 申请(专利权)人: 贵州高科铜业有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L21/48;H01B1/02;C22C9/00;B23P17/00;B23P23/06;B21B1/46;B22D11/00;B22D11/14;B22D11/16
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 代理人: 李大刚
地址: 550017贵州*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 引线 框架 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种集成电路引线框架铜带,其特征在于:所述的集成电路引线框架铜带具体材料组份,按照重量比:铜为99.60-99.85份,铁为0.10-0.20份,磷为0.03-0.04份;该铜带的电导率不小于85%IACS、强度大于400Mpa、硬度大于HV120、延伸率大于11%、软化温度大于400℃。

2.如权利要求1所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:采用多连体铸机组熔融-水平连续拉铸-铸坯结晶后淬水-高精轧制-反复分级时效-表面精整-拉弯矫直-精剪分切-卷取包装而成。

3.根据权利要求2所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:所述的多连体铸造机组熔融,是将熔化炉、均合炉和保温炉设置在同一个炉体内腔,在熔化炉和均合炉、均合炉和保温炉之间的隔断上接近炉底的位置设置有通道,铜液通过通道流动补充;将熔化炉温度控制在1200~1250℃,使均合炉内铜液保持沸腾状态,将保温炉温度控制在1160~1180℃。

4.根据权利要求3所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:将均合炉温度控制在1160~1190℃。

5.根据权利要求2所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:需在保温炉补充磷,使铜液成份符合要求。

6.根据权利要求2所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:所述的水平连续拉铸,是将熔融状态的铜液经过引铸机组水平连续拉铸成16毫米厚的卷坯。

7.根据权利要求2所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:所述的铸坯结晶后淬水,是在铸坯出结晶器后进行的,在线固溶,析出强化。

8.根据权利要求2所述的集成电路引线框架铜带的制作方法,其特征在于:所述的高精轧制、反复分级时效,是高精轧制后进行760℃时效7小时,再反复经高精轧制、450℃时效6小时直至达到成品厚度。

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