[发明专利]单点对焦影像量测系统及方法

权利要求书

1.一种单点对焦影像量测系统，其特征在于，该系统包括：

选择模块，用于在一个待测物体的影像上选择量测点；

控制模块，用于根据上述量测点的X轴、Y轴坐标值发送命令给一个镭射控制器，使该镭射控制器控制一个镭射头在上述待测物体上寻找上述量测点，并从该镭射控制器中获取上述量测点到镭射头的垂直距离h；

计算模块，用于根据上述获取的垂直距离h及镭射头所在位置的Z轴坐标值，计算出上述量测点的Z轴坐标值，进而得到上述量测点的精确X、Y、Z轴坐标值；及

对焦模块，用于根据上述量测点的精确X、Y、Z轴坐标值，控制一个影像量测机台移动，使该影像量测机台的镜头对上述量测点对焦。

2.如权利要求1所述的单点对焦影像量测系统，其特征在于，所选择的量测点为一个点或者多个离散的点。

3.如权利要求2所述的单点对焦影像量测系统，其特征在于，所述计算机还包括：

判断模块，用于判断选择模块所选择的量测点是否有效，若所选择的量测点无效，则结束流程，及在量测点为多个离散的点时判断所选择的所有的量测点是否全部在待测物体上寻找完毕，若还有量测点没有寻找，则控制模块发送命令给镭射控制器，使镭射控制器控制镭射头在待测物体上寻找下一个量测点。

4.如权利要求1所述的单点对焦影像量测系统，其特征在于，所述的计算机还包括：

输出模块，用于输出计算出来的量测点的精确X、Y、Z轴坐标值。

5.一种单点对焦影像量测方法，其特征在于，该方法包括步骤：

(a)在待测物体的影像上选择量测点；

(b)根据上述量测点的X轴、Y轴坐标值控制与影像量测机台相连的镭射控制器，使该镭射控制器控制影像量测机台上的镭射头在待测物体上寻找上述量测点，并从所述镭射控制器中获取上述量测点到镭射头的垂直距离h；

(c)根据上述获取的垂直距离h及镭射头所在位置的Z轴坐标值，计算出上述量测点的Z轴坐标值，进而得到上述量测点的精确X、Y、Z轴坐标值；及

(d)根据上述计算出来的上述量测点的精确X、Y、Z轴坐标值，控制影像量测机台移动，使影像量测机台上的镜头对上述量测点对焦。

6.如权利要求5所述的单点对焦影像量测方法，其特征在于，在步骤(c)之前还包括：

判断所选择的量测点是否有效；及

若选择的量测点无效，则结束流程。

7.如权利要求5所述的单点对焦影像量测方法，其特征在于，所选择的量测点为一个点或者多个离散的点。

8.如权利要求7所述的单点对焦影像量测方法，其特征在于，若选择的量测点为多个离散的点时，则在步骤(d)之前还包括：

判断是否还有选择的量测点没有在待测物体上寻找；及

若还有量测点没有寻找，则返回步骤(b)。