[发明专利]偏心测量装置及测量仪器

权利要求书

1.一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其特征在于，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔的内壁沿其径向方向延伸出四个凹槽，所述通孔以及所述凹槽允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。

2.如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述通孔的宽度大于所述光学元件的光学部的宽度且小于所述光学元件的宽度。

3.如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述四个凹槽沿圆周方向等间距排布。

4.如权利要求3所述的偏心测量装置，其特征在于，所述四个凹槽中每两个相对的凹槽的侧壁之间的宽度大于所述光学元件的宽度。

5.如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述载盘设有一用于收容所述光学元件的容置部。

6.如权利要求5所述的偏心测量装置，其特征在于，所述容置部的中心与所述通孔的中心对齐且所述容置部的宽度与所述光学元件的宽度相等。

7.一种测量仪器，用于测量光学元件的偏心度，其包括：一个测量计，及一个偏心测量装置，所述测量计包括一个平台，所述偏心测量装置设置于所述平台上，所述偏心测量装置包括一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其特征在于，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔的内壁沿其径向方向延伸出四个凹槽，所述通孔以及所述凹槽允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。

8.如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述通孔的宽度大于所述光学元件的光学部的宽度且小于所述光学元件的宽度。

9.如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述四个凹槽沿圆周方向等间距排布。

10.如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述载盘设有一用于收容所述光学元件的容置部。