[发明专利]自然电位连续剖面勘探方法无效
申请号: | 200710300738.X | 申请日: | 2007-12-28 |
公开(公告)号: | CN101216565A | 公开(公告)日: | 2008-07-09 |
发明(设计)人: | 杨高印 | 申请(专利权)人: | 西安西凌地球物理技术开发有限责任公司;杨高印 |
主分类号: | G01V3/06 | 分类号: | G01V3/06 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐秦中 |
地址: | 710075陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 自然 电位 连续 剖面 勘探 方法 | ||
1.自然电位连续剖面勘探方法。其步骤如下:
1)将多个电传感器以排列方式布设在各勘测点上;
2)测量上述各相邻勘测点间的接地电阻;
3)以上述各勘测点中的一个勘测点作为基准测量点,测量各勘测点相对于基准测量点间的电位差
4)多次重复步骤3);
5)按步骤1)布设下一个排列,其中该排列端部的一个或两个电传感器布设在上一排列端部的勘测点上,即相邻两排列端部的勘测点重合;
6)重复步骤2)、3)4);
7)按步骤5)、6)重复进行排列布设、测量,直至完成所需区域的勘测;
8)根据步骤4)所得的测量数据,将上述各个排列勘测点获取的各勘测点相对于该排列基准测量点间的电位差进行去噪、叠加处理,得到各勘测点相对于该排列基准测量点间的有效电位差ΔUi′;
9)对上述所得各勘测点的有效电位差ΔUi′按下式处理:
ΔUi=Ki*ΔUi′
Ki=(R1+R2+…+Rn-1)/〔(n-1)*Ri〕 式中
Ki为对应于各勘测点的压制因子,i=1、2、3…n-1,
R1为第1勘测点与第2勘测点间的接地电阻,R2为第2勘测点与第3勘测点间的接地电阻,Rn-1为第n勘测点与第n-1勘测点间的接地电阻;
ΔUi即为所需的各勘测点的校正后自然电位差;
10)根据校正后自然电位差ΔUi,经过环平差处理,即得到勘探区各个勘测点上的自然电位数据,即得到所需的自然电场信息。
2.根据权利要求1所述的勘探方法,其特征是在步骤3)中以位于该排列端部的勘测点作为基准测量点。
3.根据权利要求2所述的勘探方法,其特征是在步骤1)中,所说的电传感器按排列方式分别布设在各勘测点上,其中作为两个端的勘测点的电传感器是并联分布在该端勘测点周围的多个电传感器。
4.根据权利要求3所述的勘探方法,其特征是并联分布在该端勘测点周围的多个电传感器有2-5个。
5.根据权利要求3所述的勘探方法,其特征是并联分布在该端勘测点周围的多个电传感器有3个,它们互成120度分布。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安西凌地球物理技术开发有限责任公司;杨高印,未经西安西凌地球物理技术开发有限责任公司;杨高印许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710300738.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于分布式应变动态测试的结构健康监测方法
- 下一篇:颜料分散液