[发明专利]磁共振成像系统的测试装置

权利要求书

1.一种磁共振成像系统的测试装置(100)，包括基板(10)和设置在所述基板(10)上的探头(20)，其特征在于：

所述基板(10)上设置圆弧形基板导轨(12)，所述基板导轨(12)的圆心处设置枢轴(16)，一旋转滑杆(14)的一端可旋转地枢接在所述枢轴(16)上，另一端与所述基板导轨(12)相配合并适于在所述基板导轨(12)上滑动，探头(20)设置在所述旋转滑杆(14)上并适于在所述旋转滑杆(14)上滑动；其中所述探头(20)上设置探头定位件(22)，当所述探头(20)滑动至预定位置时，借助所述探头定位件(22)将所述探头(20)固定；

所述旋转滑杆(14)与所述基板导轨(12)相配合的一端上设置滑杆定位件(18)，当所述旋转滑杆(14)旋转至预定位置时，借助所述滑杆定位件(18)将所述旋转滑杆(14)固定；以及

所述基板(10)设置在基座(30)上，所述基座(30)在所述基板(10)的两侧垂直于所述基板(10)所在的平面的方向上分别设置基座导轨(32)，所述基板(10)的两侧与所述基座导轨(32)相配合并适于在所述基座导轨(32)上滑动；其中所述基板(10)的两侧上设置基板定位件(34)，当所述基板(10)滑动至预定位置时，借助所述基板定位件(34)将所述基板(10)固定；

以所述枢轴(16)作为三维直角坐标系的坐标原点，所述基板(10)所在平面的水平和垂直方向分别作为X、Y轴建X-Y平面并设置相应的直角坐标刻度；

在所述基座导轨(32)上设置对应于以所述枢轴(16)为坐标原点的所述三维直角坐标系的Z轴的坐标刻度。

2.根据权利要求1所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，所述基座(30)在垂直于所述基板(10)所在的平面的方向上分为前、后两部分，所述基座导轨(32)设置在基座(10)的所述前、后两部分之间。

3.根据权利要求2所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，在基座(30)的所述前、后两部分之间，平行于所述基座导轨(32)设置至少一个辅助导轨(36)，在所述基板(10)上对应所述辅助导轨(36)处设置滑动结构(19)。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，在所述基板(10)的旋转滑杆(14)上设置复数个探头(20)及相应的探头定位件(22)。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，在所述基板(10)上设置复数个旋转滑杆(14)及相应的滑杆定位件(18)。

6.根据权利要求4所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，在所述基板(10)上设置复数个旋转滑杆(14)及相应的滑杆定位件(18)。

7.根据权利要求1-3任意一项所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，包括复数个在所述基座(30)的基座导轨(32)上滑动的所述基板(10)及相应的基板定位件(34)。

8.根据权利要求4所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，包括复数个在所述基座(30)的基座导轨(32)上滑动的所述基板(10)及相应的基板定位件(34)。

9.根据权利要求5所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，包括复数个在所述基座(30)的基座导轨(32)上滑动的所述基板(10)及相应的基板定位件(34)。

10.根据权利要求6所述的磁共振成像系统的测试装置，其中，包括复数个在所述基座(30)的基座导轨(32)上滑动的所述基板(10)及相应的基板定位件(34)。