[发明专利]无线基站上下行通路的测试方法和测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信技术，尤其涉及一种无线基站上下行通路的测试方法和测试系统。

背景技术

目前，第三代(3G)无线通信基站普遍采用了“中频拉远技术”。既将无线基站中的射频收发部分与基带数字信号处理部分分开，并将射频收发设备作为远端设备设置在室外的天线处，天线接收的信号先在远端设备中转为中频信号，再通过中频传输系统传回到本地基站单元。

基于中频拉远技术，现有的无线基站系统由一个本地基带单元和若干个远端设备组成。为了称述方便，下面简称本地基带单元为BBU(BaseBandUnit)，远端设备简称为RE(Remote Equipment)。所述BBU中主要包括数字信号处理器(DSP，Digital Signal Processing)等基带处理器件，远端设备RE中主要包括现场可编程门阵列器件(FPGA)、用于进行中频处理的中频芯片，以及射频收发单元。所述RE通过光纤直接或间接连接到本地BBU。通常情况下，BBU发送下行数据到RE，传输下行数据的通路为下行通路；RE接收用户数据并作为上行数据传给BBU，传输上行数据的通路为上行通路。

在对无线基站设备的生产测试中，需要测试整个上下行通路能否正常工作。目前通常有两种测试方法：

现有技术一：采取的一种测试方法是采用辅助的设备和测试程序分别对BBU和RE进行单板测试，一般分为图1至图4所述的四种测试方式：

图1为利用辅助测试板测试BBU下行通路的示意图。参见图1，利用辅助测试板接收BBU发送的下行数据，测试BBU的下行通路，通过辅助测试板上的测试程序判断BBU下行通路是否正常。

图2为利用辅助测试板测试RE下行通路的示意图。参见图2，利用辅助测试板将数据发送给RE，测试RE的下行通路，通过观察频谱仪的输出来判断RE的下行通路是否正常。

图3为利用辅助测试板测试RE上行通路的示意图。参见图3，利用辅助测试板接收RE发送的数据，测试RE的上行通路，通过辅助测试板上的测试程序判断RE的上行通路是否正常。

图4为利用辅助测试板测试BBU上行通路的示意图。参见图4，利用辅助测试板将数据发送给BBU，测试BBU的上行通路，通过BBU上的测试程序判断BBU的上行通路是否正常。

上述现有技术一的缺点是：由于板卡的不一致性，需要将每块板卡进行单独测试，确保每块板卡的所有器件都能工作正常，无法很快地测试到整个链路的问题，测试效率低，严重影响生产和测试的进度。

现有技术二：利用整机进行校准测试，利用校准天线分别进行收发方向通路的校准，能够将整个上下行通路的问题测出来，但这种测试需要有校准天线以及多天线有校准条件下才能进行测试，单天线或者多天线没有校准天线时是无法进行整个通路的测试的，即使出来问题也没法测出来。因此，需要的必要设备较多，操作复杂，成本高。

总之，现用的测试方法的测试效率低下，不能满足测试的进度要求，而且需要相关的硬件板卡和仪器，成本较高。

发明内容

有鉴于此，本发明所要解决的技术问题在于提供一种无线基站上下行通路的测试方法，以提高对无线基站上下行通路的测试效率，降低测试成本。

本发明所要解决的另一技术问题在于提供一种无线基站上下行通路的测试系统，以提高对无线基站上下行通路的测试效率，降低测试成本。

为了实现上述发明目的，本发明的主要技术方案为：

一种无线基站上下行通路的测试方法，包括：

A、在无线基站的本地基带单元向下行通路发送测试数据；

B、当所述测试数据通过下行通路到达无线基站远端设备的中频单元后，将中频单元下行通路输出的测试数据环回到中频单元的上行通路；

C、所述测试数据通过上行通路返回到本地基带单元后，比较本地基带单元在上行通路收到的测试数据和步骤A所发送的测试数据，按照比较结果判断无线基站的上下行通路是否正常。

优选的，所述无线基站为基于时分的无线基站；步骤A中，利用时分无线基站的动态配置时隙作为下行时隙向所述本地基带单元的下行通路发送测试数据；步骤B中，利用时分无线基站的动态配置时隙作为上行时隙环回所述测试数据。

优选的，所述作为上行时隙和下行时隙的动态配置时隙为同一个时隙。

优选的，步骤C主要包括：将所述发送的测试数据和接收到的测试数据进行相关计算，得到相关峰的值和位置，如果相关峰值在预设的正常范围内，且相关峰的位置与预设的位置相符，则判定所述上下行通路正常；否则判定所述上下行通路异常。