[发明专利]用于监视设备的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及设备监视方法和设备监视系统，并涉及例如用于由传感器值判断设备异常的技术。

背景技术

存在对用于改进设备安全性并减少监视成本的远程监视的增长的需求。作为应当在远程监视中认识到的事情之一，存在对异常进行的监视。设备的异常由传感器值进行判断。给定应当由传感器取得的值的上限和下限。当传感器的值偏离此范围(正常范围)时，设备被认为是异常的。可以通过使用传感器值的历史数据确定传感器值的上限和下限。例如，存在这样的方法：假设传感器值中的波动为正态分布，计算平均值“μ”和标准偏差“σ”，并将μ±3σ设置为上限和下限。

远程监视具有这样的特性：大量同样的设备是监视的对象。在所有这些设备中收集传感器数据并确定上限和下限是困难的。由于不存在新安装设备的传感器值的历史数据，不可能设置上限和下限。因此，可以想到对对象设备中的几个设备进行采样并使用被采样设备的传感器数据确定上限和下限的方法。然而，即使设备是相同的，设备之间可能存在个体差异。可能难以由被采样设备的传感器数据唯一地确定其余设备的传感器值的上限和下限。换句话说，由设备采样确定的传感器值上限和下限不总是令人满意地适用于发现其余设备的异常。

发明内容

根据本发明一实施形态，提供了一种监视各自具有传感器的多个设备的监视方法，其包含：

从所述多个设备中选择两个或两个以上的采样设备；

对于各个采样设备，计算由采样设备检测的传感器值的平均值和标准偏差；

计算平均值的置信区间以及标准偏差的平均值；以及

将所述多个设备中的任意设备检测到的传感器值的平均值计算为对象平均值，并由对象平均值、置信区间、标准偏差平均值计算所述任意设备的传感器的正常范围。

根据本发明一实施形态，提供了一种监视各自具有传感器的多个设备的监视方法，其包含：

从所述多个设备中选择两个或两个以上的采样设备；

由采样设备检测到的传感器值，计算：

通过对各采样设备传感器值的平均值进行平均获得的采样平均值，

采样标准偏差，其为各采样设备的传感器值的平均值的标准偏差，以及

通过对各采样设备的传感器值的标准偏差进行平均获得的标准偏差平均值；以及

通过使用由所述多个设备中的任意设备检测到的传感器值的平均值和数量、采样平均值、采样标准偏差以及标准偏差平均值计算所述任意设备传感器值的平均值的正态分布的平均(mean)或相对于该平均在阈值范围内的值，并由该平均或该阈值范围内的值以及标准偏差平均值计算所述任意设备的传感器的正常范围。

根据本发明一实施形态，提供了一种监视各自具有传感器的多个设备的监视系统，其包含：

选择单元，其被配置为从所述多个设备中选择两个或两个以上的采样设备；

第一计算单元，其被配置为对于各个采样设备计算由采样设备检测的传感器值的平均值和标准偏差；

第二计算单元，其被配置为计算平均值的置信区间以及标准偏差的平均值；以及

正常范围计算单元，其被配置为将所述多个设备中的任意设备检测到的传感器值的平均值计算为对象平均值，并由对象平均值、置信区间、标准偏差平均值计算所述任意设备的传感器的正常范围。

根据本发明一实施形态，提供了一种监视各自具有传感器的多个设备的监视系统，其包含：

选择单元，其被配置为从所述多个设备中选择两个或两个以上的采样设备；

第三计算单元，其被配置为使用由采样设备检测到的传感器值计算：

通过对各采样设备传感器值的平均值进行平均获得的采样平均值，

采样标准偏差，其为各采样设备的传感器值的平均值的标准偏差，以及

通过对各采样设备的传感器值的标准偏差进行平均获得的标准偏差平均值；以及

正常范围计算单元，其被配置为通过使用由所述多个设备中任意设备检测到的传感器值的平均值和数量、第三计算单元中计算得到的采样平均值、采样标准偏差以及标准偏差平均值计算所述任意设备的传感器值的平均值的正态分布的平均或相对于该平均在阈值范围内的值，并由该平均或该阈值范围内的值以及标准偏差平均值计算所述任意设备的传感器的正常范围。

附图说明

图1示出了监视系统的总体结构；

图2示出了本地设备的结构；

图3示出了从采样设备收集数据的状态；

图4示出了对于各采样设备的监视模型；

图5示出了采样设备数据的平均值“m”、平均值的平均值“mm”、平均值的方差(variance)“ms”、标准偏差“s”的平均值“sm”；