[实用新型]一种叠料检知装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及到检测和报告装置，特别涉及到显示器生产中对重叠的IC块进行检测和报告的装置。

背景技术

在本实用新型提出之前，长边和短边都有用引线连接着IC块玻璃面板是显示器中的重要部件，因此其破損数量对于液晶显示器生产成本有着重要的影响。将IC块(驱动集成电路块)精确地、初步接合在带有引线的玻璃面板的过程叫做假压。假压过程的动作是假压头将IC块输送带送过来的IC块吸起来，喷涂异方向导电膜后，贴附在玻璃面板的边缘，使IC块与引线初步压合起来。在IC块的输送过程或假压头吸起IC块过程中，机构有时会出现故障，使两个IC块同时被输送或同时被假压头吸起，在下一步的初步压合作业时，两个IC块同时被假压，势必导致玻璃面板被压破，进而增加了液晶显示器的制造成本。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提出一种对重叠的IC块进行检测和报告的装置。使作业人员能够及时发现并采取有效措施，剔除多余的重叠的IC块，防止发生玻璃面板破裂的事件。

本实用新型是通过以下的技术措施来实现的。一种叠料检知装置，包括微处理器，安装在机架上的数字显示器和光、电信号仪，还包括安装在假压头上的支架和安装在支架上的传感器发射端；位于输送带下方，安装在机架上的传感器接收端；传感器发射端与主机的电源相连；传感器接收端、数字显示器和光、电信号仪均与微处理器相连。

所述的传感器是对照式光纤传感器。

安装在假压头的支架上的传感器发射端接受来自主机电源的电力后，向下对IC块输送带发出光波。当光波照射到一个IC块上时，它会穿透IC的封装膜及IC块，再照射到位于输送带下方，安装在机架上的传感器接收端上，传感器接收端将光学信号转换成数字信号并传输给微处理器。微处理器对此数字信号进行分析、比较及处理，并传输给数字显示器以显示出所获得的数字量。一旦在输送带上出现重叠的IC块或在假压头将要吸着重叠的IC块时，同样的光波照射到重叠的IC块上时，透射到传感器接收端上的光波数量与只有一个IC块时的数量不一样。在微处理器上进行对照处理，并将结果传输到光、电信号仪上，并由数字显示器显示出来。当两者差别很大时，可以判断输送带上或假压头上出现了重叠的IC块。此时装置会发出闪光讯号和蜂鸣讯号，机器随之停止运行，假压过程不再进行下去，作业人员将会及时地进行处理。

本实用新型采用上述技术措施后，在假压过程中，一旦在输送带上出现重叠的IC块或在假压头将要吸着重叠的IC块时，装置能够自动做出判断并发出声光讯号，作业人员能够及时发现并采取有效措施，剔除多余的重叠的IC块，从而防止发生玻璃面板破裂的事件。减少了玻璃面板的破裂，也就降低了液晶显示器的制造成本，提高了经济效益。

附图说明

附图为本实用新型实施例的示意图。

图中：1为假压头。2为假压背托，3为输送带，4为对照式光纤传感器发射端，5为支架，6为主机电源，7为微处理器，8为光、电信号仪，9为数字显示器，10为对照式光纤传感器接收端。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明实用新型作进一步说明。

一种叠料检知装置，如附图所示，包括微处理器7，安装在机架上的数字显示器9和光、电信号仪8，还包括在假压头1上的支架5和安装在支架5上的对照式光纤传感器发射端4；位于输送带3下方，安装在机架上的对照式光纤传感器接收端10；对照式光纤传感器发射端4与主机的电源6相连；对照式光纤传感器接收端10、数字显示器9和光、电信号仪8均与微处理器7相连。

安装在假压头1的支架5上的对照式光纤传感器发射端4接受来自主机电源6的电力后，向下对IC块输送带3发出光波。光波会穿透IC的封装膜及IC块，再照射到位于输送带3下方，安装在机架上的对照式光纤传感器接收端10上，对照式光纤传感器接收端10将光学信号转换成数字信号并传输给微处理器7。微处理器7对此数字信号进行分析、比较及处理，并传输给数字显示器9以显示出所获得的数字量。一旦在输送带3上出现重叠的IC块或在假压头1将要吸着重叠的IC块时，同样的光波穿透重叠的IC封装膜到达对照式光纤传感器接收端10上的光波强度与只有一个IC块时的数量有差异。在微处理器7上进行对照处理，并将结果传输到光、电信号仪8上并由数字显示器9显示出来。当两者差别很大时，可以判断输送带3上或假压头1上出现了重叠的IC块。此时装置会发出闪光讯号和蜂鸣讯号，机器随之停止运行，假压过程不再进行下去，作业人员将会及时地进行处理。

以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干变型和改进，这些也应视为属于本实用新型的保护笵围。