[实用新型]IC测试治具

权利要求书

1.一种IC测试治具，包括一组探针[1]以及作用于IC[2]和测试板[3]间的压板机构[4]，其特征在于：还包括一定位板[5]，该定位板[5]由上板体[6]和下板体[7]拼合构成，定位板[5]上设有一组贯穿上板体[6]和下板体[7]的探针容纳孔[8]；各探针[1]由上探头[9]、下探头[10]、套管[11]以及至少一弹簧构成；所述上探头[9]的头部朝上置于套管[11]的上端，下探头[10]的头部朝下置于套管[11]的下端，套管[11]内上探头[9]和下探头[10]间设置至少一弹簧，以此构成双头探针结构；所述探针[1]对应插设于各探针容纳孔[8]中，上探头[9]的头部露于探针容纳孔[8]的上端口外供IC[2]的引脚接触电连接，下探头[10]的头部露于探针容纳孔[8]的下端口外供测试板[3]的连接脚接触电连接；并且，所述套管[11]外周上设有限位块[12]；上板体[9]和下板体[10]间在探针容纳孔[8]的孔壁上对应限位块[12]退让设有一容纳空间[13]，限位块[12]与容纳空间[13]配合构成防脱限位结构。

2.根据权利要求1所述的IC测试治具，其特征在于：所述上探头[9]和下探头[10]均滑动插设在套管[11]两端内，套管[11]的两端为缩小口[14]，两端缩小口[14]与上探头[9]或下探头[10]配合构成防脱结构。

3.根据权利要求2所述的IC测试治具，其特征在于：所述弹簧为压簧[26]，数量为一根，它作用在上探头[9]和下探头[10]之间。

4.根据权利要求2所述的IC测试治具，其特征在于：所述套管[11]内中部凸设有弹簧固定位[15]，所述弹簧为压簧，数量为两根，其中一压簧[16]设于弹簧固定位[15]与上探头[9]之间，另一压簧[17]设于弹簧固定位[15]与下探头[10]之间。

5.根据权利要求1所述的IC测试治具，其特征在于：所述上探头[9]和下探头[10]间，一探头为滑动连接于套管[11]内，另一探头固定连接于套管[11]端部；所述弹簧有两根，其中一根弹簧[18]设置于套管[11]内作用在滑动连接的探头上，迫使该探头外露于探针容纳孔[8]一端外，另一弹簧[19]套设在套管[11]外周上作用在套管[11]与定位板[5]之间，迫使套管[11]上固定连接的探头也外露于探针容纳孔[8]另一端外。

6.根据权利要求1所述的IC测试治具，其特征在于：所述上探头[9]的头部为三爪形、四爪形或圆形内凹状。

7.根据权利要求1所述的IC测试治具，其特征在于：所述压板机构包括定位架[20]、压板[21]以及下压机构[22]；所述定位架[20]包括上板[23]和下板[24]，上板[23]和下板[24]相拼合，上板[23]和下板[24]间设有一供测试板[3]插入的定位嵌入槽[25]，上板[23]上对应测试板[3]上的IC安装位嵌设固定上述定位板[5]，定位板[5]的上方设压板[21]，该压板[21]与定位板[5]间留有一供放置IC[2]的空间，下压机构[22]从上方作用驱动压板[21]上下运动。