[实用新型]测量治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子元器件的测量治具，特别是涉及表面贴装元器件的测量治具。

背景技术

对于表面贴装型的电子元器件，诸如：电解电容、陶瓷电容等等，由于该类电子元器件本身较小，在对其进行一些电性参数测量时，利用时下现有的测量仪器测量，与其相连的鳄鱼夹、探针或者尖嘴夹往往会与该类元器件的引脚发生接触不稳的情况，测量仪器输出的数据准确度不高，并且由于是人为掌控该类治具去夹持元器件，一来操作不方便，二来有时亦会出现飞件的现象。

发明内容

鉴于上述问题，本实用新型的主要目的在于提供了一种可对不同长度及类型的表面贴装型电子元器件进行夹持，其操作方便，保证了元器件测量时的稳固性，并且保护了测量人员的安全。

为了实现上述目的，本实用新型采用了下述技术方案：

所述测量治具包括一底座、一活动块以及一盖子，其中，所述底座为具有一本体，且于该本体上开设有一轨道，并且于该轨道所处面的一端处设有一凸台，该凸台为呈阶梯状，且分别包括第一阶和第二阶，在第二阶的面上设有第一弹性组件；所述活动块为装设于底座上并且滑动于轨道，在该活动块的一面上凹设一槽，该槽与所述凸台的第二阶配合形成一容纳待测元器件的容纳空间，又，对应于所述第一弹性组件且在该槽中设置有第二弹性组件，并且在该活动块上且相对应于底座轨道的位置处开设一螺丝孔，以借助螺丝来将活动块固定于底座上；在所述活动块的另一面上且相对于所述底座上的轨道开设一滑动槽；所述盖子为枢设于所述第一阶，以在测试时盖压住待测物并保证待测物与第一、第二弹性组件接触完好。

另外，在所述底座及活动块上分别开设有一贯穿孔，且该所述贯穿孔为分别于与第一弹性组件和第二弹性组件所处的位置连通，得以实际测试时可将与第一弹性组件和第二弹性组件相连接的引线从该贯穿孔引出，进而使得在测量时，测量仪器的探针或者尖嘴夹得以借助该引线而量测出待测元器件的一些电性参数。

通过上述结构，表面贴装型电子元器件的引脚可以很稳的与测量仪器相互连接，进而得到稳定的测量数据，且该类表面贴装型电子元器件为配合盖子而“藏”起，从而避免了量测时“飞件”现象的发生。

附图说明

图1为所述测量治具的整体结构示意图；

图2为所述底座的结构示意图；

图3为所述活动块的正面结构示意图；

图4为所述活动块的背面结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图以及具体实施例来对本实用新型进行详细说明。

参照图1中所示，所述测量治具为配合表面贴装型电子元器件，诸如电解电容、陶瓷电容等等于测量时所用的固定夹持的测量治具，其包括一底座10、一活动块20以及一盖子30。其中，结合图2中所示，所述底座10为包括一本体(图中未示)，且于该本体的部分处上设有一轨道101，在该本体上且设置有该轨道101的剩余部分的面上设有一凸台102，该所述凸台102呈阶梯状，且分别包括第一阶1021和第二阶1022，在该所述第二阶1022的面上设有第一弹性组件10221，该第一弹性组件10221可为一金属弹簧片。

结合图3中所示，所述活动块20为装设于上述底座10上并且滑动于所述轨道101，在该活动块20的一面上凹设一槽201，且该槽201与所述凸台102的第二阶1022配合形成一容纳待测元器件的容纳空间，又，对应于所述第一弹性组件10221且在该槽201中置设有第二弹性组件2011，该第二弹性组件2011可为一金属弹簧片，量测时，所述待测元器件的引脚(图中未示)为分别与第一弹性组件10221和第二弹性组件2011相触，通过该上述结构，进而得到稳定的测量数据；所述盖子30为枢设于所述第一阶1021，其在量测前为处于打开状，且开始量测时，则盖压住待测元器件(图中未示)，从而使得该待测元器件的引脚得以与第一、第二弹性组件(10221、2011)紧密接触，另，该结构亦避免了量测时出现“飞件”的情况。