[实用新型]一种用于OLED老化测试的夹具

说明书

技术领域：

本实用新型涉及电子显示器件的技术领域，特指一种用于OLED(有机电致发光显示器件)老化测试的夹具。

背景技术：

有机电致发光显示器件(OLED)是一种低电压、低功耗、高亮度、高光效、宽视角、全固化、全彩显、重量轻、价格低的电致发光器件。OLED已成为当今显示器件研究的热门中的热点。

通常的OLED器件在进行封装之前需要经过一系列的测试过程，其中一项测试就是老化测试，目前的OLED在进行老化测试时采用单独测试的方式，即将单独的一块OLED单体屏幕点亮，对其进行器件老化测试。见图1，通常在加工作成中0LED多采用在一个大屏器件1上同时加工多块的OLED器件11，这样在进行老化测试时就必须将该大屏器件1切割，分成独立的OLED单体12，然后再对OLED单体12进行老化测试。这样方式同时需要多个独立的老化测试夹具，以分别夹紧不同的OLED单体12。测试时，将OLED单体12上的电极接通电源，则其屏幕点亮，测试开始。

上述测试工艺及测试用夹具存在以下不足：

1、一般情况下，目前单独一个老化测试夹具只能一次老化测试一个OLED单体，工作效率太慢。

2、对于一整大片器件包含多个小片OLED器件情况下，只能把大片器件切割成独立的小片后才能进行老化测试，浪费时间，并且增加操作工序。

3、OLED器件电极与夹具接触不好，器件有不均匀现象出现。

因此，现在的老化测试方法、夹具越来越成为OLED大规模生产的瓶颈。

实用新型内容：

针对上述问题，本实用新型所要解决的技术问题就是提供一种可同时进行多个器件老化测试，以提高老化测试效率的测试夹具。该夹具可以达到多个OLED器件同时进行老化测试，减少老化测试夹具的数量，减少切割时间与测试时间及人工作业时间，容易实现自动化控制，从而提高器件老化测试的效率。另外，还可改善电极接触电阻，提高器件的均匀性。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用了如下的技术方案：该夹具具有一基座，于基座上设置有多个工作单元，所述的工作单元包括：一用于吸附OLED的吸附件以及用于与OLED电极接触的电极探针。

所述的吸附件和电极探针分别安装在基座上对应开设的安装孔内。

所述的吸附件包括：机架以及位于机架顶端的吸盘，所述的机架中间成型有通道，该通道与吸盘贯通。

所述的电极探针包括主体以及安装在主体内并具有弹性伸缩结构的针体。

所述的电极探针中的针体表面具有镀金层。

本实用新型与目前的产品相比具有如下优点：

1、现有技术是单独一个OLED器件就需要一个老化测试夹具，这样就要求所加工器件都必须经过切割、分离，而本实用新型可以一次老化测试一整条器件(例如包含5个、6个等多个OLED单体)，节约切割时间及需要单独夹具个数。

2、现有技术是器件直接放在夹具上，依靠导电橡胶或IC或银漆使器件电极与电路相连，手动误差非常明显，而本实用新型为提高稳定性及自动化程度采用吸真空的方法，来吸牢器件，操作方便，稳定性高。

3、现有技术器件的电极是直接与电路相连，经过几个来回的磨擦后，器件电极中的Cr会有不同程度的磨损而影响亮度的均匀性，本实用新型在器件电极的接触处以探针的形式来接触，且探针是镀金的，有效改善了因器件电极之间的接触电阻。

4、现有技术只能利用人工完成，本实用新型容易实现自动控制。

附图说明：

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明：

图1是具有多块OLED单体的大屏器件的示意图；

图2是本实用新型实施例一的立体示意图；

图3是本实用新型实施例一的内部结构示意图；

图4是对应本实用新型的OLED器件的示意图。

具体实施方式：

见图2、3、4，这是本实用新型的一个实施例，其包括：基座2，于基座2上设置有多个工作单元，本实用新型采用了六个工作单元。这六个工作单元均匀的成线形分布在机座2上，其中每个工作单元包括：一用于吸附OLED的吸附件3以及用于与OLED正负电极接触的两根电极探针4。吸附件3和电极探针4分别安装在基座2上对应开设的安装孔21、22内，其中每个工作单元中的两根电极探针4的安装孔22开设于及附件3安装孔21的旁侧。