[实用新型]一种微压传感器校准辅助装置无效
申请号: | 200720065548.X | 申请日: | 2007-12-25 |
公开(公告)号: | CN201141794Y | 公开(公告)日: | 2008-10-29 |
发明(设计)人: | 龙悦;程远贵;肖友文;颜志红;金忠 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | G01L27/00 | 分类号: | G01L27/00 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 | 代理人: | 颜勇 |
地址: | 410111湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 传感器 校准 辅助 装置 | ||
1、一种微压传感器校准辅助装置,其特征是:在外壳(8)上设有U型管,所述的U型管(13)一个侧管设有水准头(3)及其观测镜(4),上部设有密封螺钉(1)及第一正向压力接口(2)和第二正向压力接口(12),所述的U型管另一个侧管端部连接有高度可调且与大气相通的静压接口(10),在所述的外壳(8)上设有调节所述的静压接口(10)高度的调整盘(11)及指示所述的静压接口(10)高度的刻度。
2、根据权利要求1所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:所述的外壳(8)设有水平仪(7)及水平调节螺钉(6)。
3、根据权利要求1或2所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:所述的水准头(3)设有调零螺母(5)。
4、根据权利要求1或2所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:所述的刻度为设在所述的外壳(8)上指示所述的静压接口(10)高度的刻度尺(9)。
5、根据权利要求3所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:所述的刻度为设在所述的外壳(8)上指示所述的静压接口(10)高度的刻度尺(9)。
6、根据权利要求1或2所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:指示所述的静压接口(10)高度的所述的刻度设在所述的调整盘(11)上。
7、根据权利要求3所述的微压传感器校准辅助装置,其特征是:指示所述的静压接口(10)高度的所述的刻度设在所述的调整盘(11)上。
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