[实用新型]宽带精密旋光测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试样品透过率、反射率、旋光参数仪器装置。

背景技术

同类专利有“多波长旋光测试仪”，申请号：200420097472，该专利技术存在的主要缺点：

(1)光谱范围是离散波长，不是连续可调波长；

(2)在结构上，偏检器的起偏器安装在被测样品架的左右两边，不能测试样品的反射率和克尔效应参数；

(3)光谱分辨和角度测量精度较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种宽带精密旋光测试仪，克服现有的旋光测试仪光谱范围小、不连续，以及提高旋光角度测量精度和扩充反射率，并具有克尔效应参数测试功能。

为了达到上述目的，本实用新型的构思是：利用氙灯(1000W)发出的连续光经透镜聚焦进入单色仪，得到波长范围为190～1350nm的单色光；单色光束经光纤耦合进入暗箱，光束经过起偏器(格兰棱镜P)形成线偏振光(见附图1)。起偏器(P)、样品架(S)和检偏器(A)固定于暗箱(暗箱内部结构见图2)中，光电倍增管通过皮老虎固定于暗箱外(具体位置见图2)，有两种布局方式：

方式一：偏检器和起偏器安装在被测样品架在左右两边，线偏振光通过被测试样品后，产生法拉第旋转θ，光的偏振态改变了Δφ；计算机控制检偏器(格兰棱镜A)和光电倍增管(半导体制冷)测量消光状态(信号最小)角度改变值，即为样品的旋光角度Δφ。改变单色仪波长，可以测试190～1350nm光谱范围样品的旋光角度。偏检器被移开光路时，测试样品的透过率；偏检器被至于光路中时测试样品的旋光角度。

方式二：偏检器和起偏器安装在被测样品架的同一边，线偏振光在样品表面反射，偏检器被移开光路时，测试样品的反射率；偏检器被至于光路中时测试样品的克尔效应参数。

根据上述的实用新型构思，本实用新型采用下述技术方案：

一种宽带精密旋光测试仪，包括光源、测试暗箱和连接微机的光电倍增管PMT，其特征在于：

(1)光源为氙灯，发出连续光；

(2)光源的发射口经一个透镜装置连接一个单色仪的进口；

(3)单色仪的出口通过光纤连接测试暗箱的进口；

(4)测试暗箱的后端或侧壁上有出口连接光电倍增管PMT。

上述的氙灯为美国Oriel公司出口的1000W氙灯，单色仪为美国Oriel公司出口的UV-VIS单色仪，单色仪输出190～1350nm的单色光。

上述的测试暗箱内从其进口至出口，依次安置起偏器、样品和检偏器，或者起偏器和检偏器位于样品的同一侧上；在其进口与出口成一水平直线布局时，光电倍增管PMT位于测试暗箱的后端，起偏器、样品和检偏器平行排列而与进出口中心连线相垂直，并且它们的中心点位于进出口中心连线上；在进口中心线与出口中心线相垂直布局时，光电倍增管PMT位于测试暗箱侧壁上，样品为反射镜作用而45°倾斜安置在进出口中心线交汇点处。

上述的测试暗箱的进口通过螺钉固定连接一个光纤夹具，光纤夹具固定夹持光纤的出口端。

上述的起偏器是一片偏振片安装在偏振片夹具上，偏振片夹具固定安装在一个手动转台上，手动转台下有垫块通过螺钉连接于测试暗箱内底平台上。

上述的样品安装在样品夹具上，样品夹具固定安装在转台上，转台通过螺钉安装在测试暗箱内底平台上。

上述的检偏器安装在一个由步进电机驱动的转台上，转台通过螺钉安装在测试暗箱内底平台上。

上述的测试暗箱的出口通过波纹管连接所述的光电倍增管PMT的进口。

本实用新型与现有技术相比较，具有如下显而易见的实质性特点和优点：本实去光源采用氙灯的连续光，经透镜聚焦进入单色仪，得到波长为190～1350nm单色光，用于对测试暗箱提供单色光束，光谱范围宽，连续可调，分辨率高。在偏检器和起偏器安装在被测样品两边时，可测试样品的旋光角度。偏检器被移开光路时，可测试样品的透过率。在偏检器和起偏器安装在被测样品的一边时，偏检器被移开光路时，可测试样品的克尔效应参数，偏检器被移开光路时，可测试样品的反射率，所以，本实用新型功能多。

附图说明

图1是本实用新型的结构框图。

图2是图1示例中测试暗箱的结构示意图。

图3是图2的俯视图。

具体实施方式

现将本实用新型的实施例叙述于后。

实施例1