[实用新型]用于测量轻元素的光路结构无效
| 申请号： | 200720096483.5 | 申请日： | 2007-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN201047831Y | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 张磊 | 申请（专利权）人： | 天津市博智伟业科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王融生 |
| 地址： | 300384天津市华*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 轻元素 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测量轻元素的光路结构，其特征在于：在样品盒下方连接测量支架，测量支架侧下方有正对样品盒内待测试样台的X射线出口，测量支架正下方有次级滤光片支架，次级滤光片支架下是正比计数管的铍窗。
2.根据权利要求1所述的用于测量轻元素的光路结构，其特征在于：正比计数管连接前置放大器。
3.根据权利要求1所述的用于测量轻元素的光路结构，其特征在于：正比计数管外有金属屏蔽盒。
4.根据权利要求1所述的用于测量轻元素的光路结构，其特征在于：正比计数管连接正比计数管电源。
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