[实用新型]一种LCD玻璃基板破碎检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示器(LCD)制造业领域，尤其涉及一种LCD制造过程中LCD玻璃基板破碎检测电路。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的阵列工艺(Array)和成盒工艺(Cell)中，玻璃基板会经受各种各样的温度、震动、压强的冲击，因此玻璃基板在生产过程中，极易造成破裂或破碎。

玻璃基板的破碎会造成设备、生产线的污染，会损坏某些设备的部件，设备也会因此而停机。而玻璃的破碎往往经过破裂的过程，破裂的玻璃，在后续工序中因为经受运输震动、基台限位固定、真空吸附而发生破损，因此是否能及时感知到玻璃基板发生破裂尤为重要，可以避免后工序的设备发生事故。

目前现有LCD厂商并没有有效的方法检测出破裂的玻璃基板，只有在生产过程中玻璃基板发生破碎后，设备或者机械手的真空吸附传感器感知到异常，才会报警，但已经造成很大的损失。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种LCD玻璃基板破碎检测电路，通过该检测电路，能及时发现破裂但没有破碎的玻璃基板，预防玻璃基板破碎所带来的损失。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种LCD玻璃基板破碎检测电路，包括：玻璃基板，其中非闭合的环形金属线形成在玻璃基板四周，且非闭合环形金属线的非闭合处位于所述玻璃基板的边沿处，两个连接点与非闭合环形金属线的两端连接。

上述方案中，所述玻璃基板可为阵列玻璃基板或彩色滤光片玻璃基板。

本实用新型通过在玻璃基板上设置检测环形电路，检测时向这个环形电路的一端输入信号，通过检测环形电路另外一端是否有反馈信号来判断玻璃基板是否破裂，因此能使检测设备及时发现破裂但没有破碎的玻璃基板，预防了玻璃基板破碎所带来的损失；此外，该检测电路结构简单，制作简便。

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行更为详细地说明。

附图说明

图1是本实用新型LCD玻璃基板及破碎检测电路示意图；

图2是本实用新型LCD玻璃基板及破碎检测电路在玻璃基板破裂时的示意图；

图3是利用本实用新型的破碎检测电路对玻璃基板进行检测时玻璃基板完好时的示意图；

图4是利用本实用新型的破碎检测电路对玻璃基板进行检测时玻璃基板破裂时的示意图。

图中标记：1、玻璃基板；2、环状金属线；3、连接点；4、探针结构；5、破裂或断裂处；6、测试电信号；7、反馈电信号。

具体实施方式

图1所示是本实用新型LCD玻璃基板及破碎检测电路示意图。如图1所示，本实用新型的LCD玻璃基板破碎检测电路包括：玻璃基板1；在玻璃基板外围形成的环状金属线2，环状金属线为非闭合的回路，是开路状态的环状，在金属线的首尾两端连接用于接收信号的连接点3(Pad)。

当玻璃基板1破裂时，其周边的环状金属线2也随之破裂或断裂，如图2中所示破裂或断裂处5。

在检测工序时，玻璃基板1被送入设备，定位完毕后检测设备里的探针结构4(Probe Frame)移动至固定在设备上的玻璃基板的连接点3上方，然后向下移动，直至接触到玻璃上的连接点3，然后设备通过探针结构4向其中一个连接点输入适当的测试电信号6，另外一个连接点通过探针结构4将接收到的反馈电信号7传向检测设备，如图3所示。

当玻璃基板1发生破裂时，会导致沉积于玻璃基板1之上的环状金属线2断裂，因此通过探针结构4向其中一个连接点输入适当的测试电信号6，检测设备接收不到反馈回的反馈电信号7，从而得知玻璃基板1发生破裂或破损，如图4所示。

本实用新型的环状金属线2可以在TFT-LCD的阵列工艺(Array)中，通过设计出合理的掩模版(Mask)，以达到阵列工艺(Array)完毕后，在玻璃边缘形成一条环形非闭合电路(包括连接点)。

应用于本实用新型的检测设备可以是在现有的检测设备上添加或改造的能向环形非闭合电路提供信号的探针结构(Probe Frame)，并增加信号源和判断系统，能通过探针结构向玻璃基板提供电信号，并通过反馈电信号来判断玻璃是否破裂。

上述实施例是结合液晶显示器中的阵列基板来进行描述的，实际上本实用新型的检测电路也可应用于液晶显示器中的彩色滤光片基板，其原理和制作同本实施例中描述的方法类似。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解按照需要可使用不同材料和设备实现之，即可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围。