[实用新型]一种绝缘测试探针

说明书

(一)技术领域

本实用新型涉及一种测试探针。

(二)背景技术

一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试，测试探针的一头接触测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。当电路板或芯片上的焊点较密时，用于测试的测试探针排列得就较紧密，在通电测试时测试探针之间会产生相互影响，严重时甚至会产生电火花。

(三)发明内容

为了克服现有测试探针在测试测试点较密集的检测件时相互间易产生干扰的不足，本实用新型提供一种即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰的绝缘测试探针。

本实用新型解决其技术问题的技术方案是：一种绝缘测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述的针体上包裹有绝缘层，所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端，所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。

探测头的结构可根据不同测量点的实际情况而定，如：所述的探测头呈圆锥状；或者：所述的探测头呈圆弧状；或者：所述的探测头上具有齿口。

本实用新型在使用时，测试探针探测端的探测头接触测试点，测试探针的连接端连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。由于针体上包覆有绝缘层，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。

(四)附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是探测端顶部的另一种结构图。

图3是探测端顶部的另一种结构图。

(五)具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1，一种绝缘测试探针，包括针体1，所述针体1的前端为用于接触测试点的探测头2，所述的针体1上包裹有绝缘层3，所述绝缘层3前方的针体形成探测头2所在的探测端4，所述绝缘层3后方的针体形成连接导线的连接端5，所述的探测头2呈圆锥状。

在使用时，测试探针探测端的探测头2接触测试点，测试探针的连接端5连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。由于针体1上包覆有绝缘层3，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。

探测头的结构可根据不同测量点的实际情况而定，可以是如图2所示的圆弧状，也可以是如图3所示的齿口状。