[实用新型]9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对9线金属封装大功率电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。

背景技术

目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，金属封装大功率电路元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩大到-65℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达1000h(150℃)以上，插拔寿命5000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和方便使用的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照9线单列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装；接触件以铍青铜材料线切割机切割下料及打弯成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用与被试器件引出线相对应、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中；锁紧装置采用双滑块横向锁紧结构，由上滑块、下滑块和手柄组成，与其他横向锁紧插座不同的是：手柄首次被设计成与接触件引出端朝向一方向；当手柄处于初始位置(垂直向下)时，接触件上端张开，放入被试器件，当手柄受力向上翻转90°至水平位置时，由于手柄的径向尺寸差，使上滑块和下滑块发生相对运动产生位移，促使接触件上端闭紧，接触件自动锁紧被试器件引出线达到锁紧被试器件的效果。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种以与被试器件引出线相对应的、纵向排列、横向自锁式和零插拔力为设计结构的试验插座，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，且该实用新型适用于被试器件不同引线的要求。

本实用新型的有益效果是：可以满足我国新型军、民通用9线和其它同类金属封装大功率电路元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。

图2是本实用新型外型结构俯视图。

图1  1盖  2压簧  3上滑块  4簧片  5挡板  6下滑块  7座  8手柄  9手柄

球图2  10开槽平头自攻螺钉

具体实施方式

在图1中，将压簧2装入插座体的座7中，再将下滑块按孔装入座7内；再将上滑块3按孔的位置放在下滑块6之上；然后将接触件即簧片4装入插座体的座7之内；装上压簧2，将挡板装在上滑块3与下滑块6之间，再将手柄8(手柄球9朝下)装在挡块5与下滑块6之间；按盖1按孔放在座7之上；最后用图2中的开槽平头自攻螺钉10将图1中的插座体盖1和座7固定住。

该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，接触件由镀金簧片3.6mm间距按纵向排列、横向自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中，与被试器件引出线相对应，锁紧装置由上滑块、下滑块和手柄组成，安装于插座体内。当手柄处于初始位置时，接触件张开，放入被试器件后，手柄受力向上翻转90°时，接触件自动锁紧被试器件。