[实用新型]一种大功率LED全自动光、电参数测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，具体是指一种用于LED的全自动光、电参数测试装置。

技术背景

进入21世纪以来，LED的技术已经有了极大进步，在散热、封装、工艺技术方面的进步使得LED有了更高的亮度、更高的效率、更长的寿命和更低的成本。在当前全球加强环保、节能技术研发的时候，LED的照明的节能、高效率优势将近获得照明市场的青睐。在我国，大功率LED作为一个新的产品，是国家绿色照明工程中明确推广使用的产品。半导体光源作为光源的固态照明灯，有着效率高、节能、环保、无污染和热辐射、经久耐用、照度充足的特点。在未来10-20年内，将逐渐取代传统的照明灯，大功率LED将作为新一代光源在照明领域中广泛推广使用。

在大功率LED(POWER LED)技术突飞猛进的今天，测试作为LED研发、生产过程中不可或缺的一个重要环节，越来越凸显其在产品开发生产过程中的指导性意义，并且作为产品质量控制和筛选的重要手段，无论从速度上还是准确性方面都对LED测试原理和测试方式提出了更高的要求。

传统的大功率LED测试方式是：对所有待测的LED参数分步在不同的仪器上或同一仪器的不同功能选项下单独测试，然后对测得的参数进行汇总分析，得出该产品的总体性能指标并分类；在LED早期发展阶段，该方法完全满足LED企业产品研发和品控的要求，但随着产品种类和数量的雪崩式增长，其弊端是显而易见的；第1，测试速度远远不能满足需要，以360芯每小时工位的测试速度，一个熟练工每八小时的分BIN数是2880芯，这大大增加了产品的生产成本，降低了产品竞争力。第2，人工测试无法排除主观因数影响，不同测试人员对产品的测试结果将产生一定的误差，严重时对产品性能造成误判而导致质量事故。第3，在大功率LED测试过程中，测试速度显得尤其重要，特别是在未安装散热装置的裸片测试中，长时间的测试过程会因芯片发热而影响测试参数的正确性，因为对大功率LED来说，芯片的结温本身就是一个重要参数，许多光、电参数的测试只有在一定的结温下才有意义，而人工测试无法控制测试条件在时序上的一致性，甚至无法在芯片允许的时间内完成测试；举例说，大功率裸片只允许数秒甚至几个毫秒的满电流加载时间，在这么短的时间内要测出其正确的光、电参数是不可能的，测出的结果也因为结温大大高出其正常工作条件而变的毫无意义。全自动方式测量作为今后LED行业特别是大功率LED来说是必然趋势，近几年来国内外少数企业也陆续推出过一些半自动、准自动化LED测试机，但因存在各种缺陷无法在市场推广。研制一套适合国内LED企业使用需求、价格适中、功能全面、性能可靠的大功率LED测试仪已迫在眉睫。

发明内容

本实用新型针对现有技术中的不足，提出一种新颖的设计方案，有效解决现有技术中的不足。

本实用新型是通过下述技术方案得以实现的：

一种大功率LED全自动光、电参数测试装置，它包括显示器11、测试主机12、机架1、滑道2、工件包装管10、积分球4，测试主机12连接显示器11、积分球4、电机，其特征在于滑道2上安装有高频发生器5。

作为优选，上述的一种测试装置，在滑道2与机架1中间放置有缓冲装置。一般情况下上述的缓冲装置为滑道弹性垫3。

作为优选，上述的一种测试装置，所述的高频发生器5的频率为20~1000Hz。作为更佳选择，所述的高频发生器5的频率为20~200Hz。

作为优选，上述的一种测试装置，所述的滑道2是由滑道盖7、滑道体8组成。

其中测量发光二极管的相对光谱功率分布，是通过线阵CCD(电荷耦合器件)的快速光栅光谱仪测定，通过数据处理计算得到色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、峰值波长、光谱半宽度、主波长、色比、色纯度等色度学参数，实现LED的全性能高精度光学测试。并采用基于WINDOWS的多线程技术进行及时高效的海量数据处理以及自动化设备控制。运用“计算机总线虚拟分布式控制技术”和“非一致存储访问体系结构(NUMA)”进行融合并应用到半导体测试领域，使原来以单片机控制为主的低数据率测试手段跃升到以工控机为硬件平台、以面向对象和面向过程控制为主的软件方法实现海量数据分析、存储、图表显示，使POW LED的测试更精确、更准确、更可靠、更直观。

有益效果：本装置在使用过程中操作简便、有效解决LED6检测过程中的卡道现象，提高了检测效率，降低生产成本，误差率小，完全可以实现全自动的光、电参数测试功能。

附图说明

图1装置的正视图

图2装置的侧视图

图3装置的俯视图