[实用新型]一种台阶深度测量工具无效

专利信息
申请号: 200720119276.7 申请日: 2007-03-30
公开(公告)号: CN201034545Y 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 付德广;尹鸿飞 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518119广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 台阶 深度 测量 工具
【权利要求书】:

1.一种台阶深度测量工具,具有表式长度测量仪,所述的表式长度测量仪包括表圈、量杆和测试头,该测试头连接于量杆底部,量杆则活动设置于表圈下方,其特征在于:所述的台阶深度测量工具还设有检测架,该检测架设置于表式长度测量仪上,测量时,被测台阶的台阶面与检测架的下端或测试头的下端接触,而其台阶深度面则相应地与测试头的下端或检测架的下端接触。

2.根据权利要求1所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述检测架的下端以及测试头的下端皆为平面,所述二平面相互平行。

3.根据权利要求1所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的表式长度测量仪为百分表。

4.根据权利要求3所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的百分表还包括下轴套,所述的下轴套位于表圈下方,所述的量杆设置于该下轴套中,而所述的检测架则设置于下轴套上。

5.根据权利要求4所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的检测架的截面为“T”型,轴心位置设有通孔,该检测架通过该通孔套设在所述的下轴套上。

6.根据权利要求4所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的检测架的截面为“[”型,其上部固定在所述的下轴套上。

7.根据权利要求4、5或6所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的检测架上还设有螺钉,所述螺钉穿设于检测架中,并抵顶于下轴套上。

8.根据权利要求1或3所述的台阶深度测量工具,其特征在于:所述的测试头的下端与检测架的下端处于同一平面上时所述的表圈指数为零。

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