[实用新型]一种二极管寿命测试仪有效

专利信息
申请号: 200720122630.1 申请日: 2007-08-31
公开(公告)号: CN201096866Y 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 吴志毅 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 江耀纯
地址: 518119广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 二极管 寿命 测试仪
【权利要求书】:

1.一种二极管寿命测试仪,其特征在于:包括温度试验箱、电源提供模块、负载、电性能采集模块和主控装置;所述待测二极管置于所述温度试验箱内,所述温度试验箱为待测二极管提供加速老化环境;所述电源提供模块、负载和待测二极管串联形成测试回路;所述电性能采集模块连接在待测二极管与主控装置之间,所述电性能采集模块采集待测二极管在通有电源时的反馈电信号并输出至主控装置,所述主控装置接收、分析所述反馈电信号以得出测试结果。

2.根据权利要求1所述的二极管寿命测试仪,其特征在于:所述电性能采集模块包括电流取样电阻、电压信号转换器和电流信号转换器,所述主控装置为计算机;所述电流取样电阻连接在待测二极管阴极和地之间;所述电压信号转换器连接在待测二极管阳极和计算机之间,用于从所述待测二极管阳极采集出电压信号并转换成数字信号输出至计算机;所述电流信号转换器连接在待测二极管阴极和计算机之间,用于从所述待测二极管阴极采集出流过待测二极管的电流并转换成数字信号输出至计算机。

3.根据权利要求1或2所述的二极管寿命测试仪,其特征在于:还包括开关,所述开关串联在测试回路上;所述主控装置与所述开关控制端相连,控制开关进行开通和闭合。

4.根据权利要求1或2所述的二极管寿命测试仪,其特征在于:所述主控装置还与温度试验箱相连,所述主控装置控制温度试验箱的温度值。

5.根据权利要求1或2所述的二极管寿命测试仪,其特征在于:所述电源提供模块为正弦波电源,所述主控装置还与正弦波电源相连,所述主控装置控制正弦波电源输出信号的电压、电流和频率。

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