[实用新型]一种集成电路冲切成型设备的样品抽检装置无效

专利信息
申请号: 200720127108.2 申请日: 2007-07-31
公开(公告)号: CN201060111Y 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 吴俊山;刘正龙;郑翔 申请(专利权)人: 铜陵三佳科技股份有限公司
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04;H01L21/66
代理公司: 铜陵市天成专利事务所 代理人: 马元生
地址: 244000安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 切成 设备 样品 抽检 装置
【权利要求书】:

1.一种集成电路冲切成型设备的样品抽检装置,其特征是它包括滑道[1]、支架、收纳杯[2]、抽检杯[4]、移动板[6]及驱动装置,在支架内设有上方开口的收料盒[7],收料盒[7]上方、支架上联接有能前后移动的移动板[6],在移动板[6]上一端固定无底的收纳杯[2],移动板[6]上与收纳杯[2]的底面对应处开有通孔;在移动板[6]的另一端设有能与移动板一起移动的抽检杯[4],移动板[6]与驱动装置联接,推动移动板[6]前后移动,滑道[1]的出口与收纳杯[2]的入口相对。

2.根据权利要求1所述的样品抽检装置,其特征是在所述的抽检装置上设有抽检杯有无传感器[26]、收料盒料满传感器[23]及收料盒有无传感器[29]。

3.根据权利要求1或2所述的样品抽检装置,其特征是所述的移动板[6]与支架的联接是这样实现的,移动板[6]的纵向两侧固定有滑套[3],滑套[3]套装在与滑套[3]适配的、固定在支架上的滑轴[20]上。

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