[实用新型]晶圆研磨定位环有效
申请号: | 200720144362.3 | 申请日: | 2007-12-13 |
公开(公告)号: | CN201136124Y | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
发明(设计)人: | 蒋莉;邵颖 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B24B37/04 | 分类号: | B24B37/04;H01L21/304 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 研磨 定位 | ||
1.一种晶圆研磨定位环,包括:环体,环体包含内缘和外缘,其特征在于,所述环体内缘相对外缘有凹口。
2.根据权利要求1所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述凹口深度为2mm~6mm。
3.根据权利要求2所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述凹口的形状是直角形、弧形、阶梯形、正弦波形或锯齿形。
4.根据权利要求1所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述内缘的宽度为5mm~15mm。
5.根据权利要求1所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述定位环的宽度为30mm~60mm。
6.根据权利要求5所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述定位环的厚度为20mm~50mm。
7.根据权利要求1至6任一项所述晶圆研磨定位环,其特征在于,所述定位环环体的材料为聚苯硫醚。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200720144362.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。