[实用新型]一种手机单板测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种手机测试装置，特别是一种手机单板电性能的自动化测试装置试。

背景技术

随着人们生活水平的提高，手机已逐渐普及。市场上，为数众多的手机厂商都在竭尽所能扩大销量，提高收益，竞争日益激烈。

提高手机质量是摆在众多手机生产厂商面前的一个重要问题。通常，在手机生产过程中，手机质量是在后端装成整机之后手工检查的，因而经常会出现人为干扰比较大、测试不全面等问题。为了解决这些问题，在现有技术中也存在在单板阶段采用自动化手段进行单板电性能测试的情形，但这些技术多数都是使用可编程数字表和继电器来进行测试，其测试范围非常有限，主要存在以下问题：

(1)仅适宜于检测模拟直流信号，对音频信号等变化的信号无法检测。

(2)无法给手机主板发送测试信号，从而不能测试按键等信号。

(3)不能测试高速数字信号，如LCM总线信号。

由于以上原因，市场上迫切的需要一种能够具有较大测试范围的手机测试装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提出一种自动化的手机单板电性能测试装置，该装置能够具有较大的测试范围，可以便捷的在手机生产中进行主板测试，进而降低不良率。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种手机单板测试装置，其特征在于，包括：

一数模输入/输出卡，用于多通道模拟/数字信号的采集、转换与输出；

一转接板，包括一用于测试手机数字信号的高速可编程逻辑器件、一第一连接器、一第二连接器以及手机元件测试控制电路；

其中，该高速可编程逻辑器件分别连接至该第一连接器、该第二连接器及该手机元件测试控制电路，该手机元件测试控制电路连接至该第一连接器和该第二连接器或者连接至该第一连接器，该第一连接器连接至该第二连接器，该数模输入/输出卡与该第二连接器连接，该第一连接器连接待测手机主板。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该手机元件测试控制电路又包括：分别与该高速可编程逻辑器件和该第一连接器连接的耳机测试电路、手机开机控制电路、SIM卡(Subscriber Identity Module，用户身份识别模块)通断控制电路和/或键盘背光驱动与测量电路，其中，该键盘背光驱动与测量电路还连接至该第二连接器。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，在该第一连接器与该第二连接器之间还连接有一MIC电平变换电路。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该高速可编程逻辑器件包括：一处理器、分别与该处理器连接的一键盘驱动模块、一液晶显示屏模块总线测试模块以及一手机元件测试控制模块。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该手机元件测试控制模块又包括：耳机测试模块、手机开机控制模块、SIM卡通断控制模块和/或键盘背光驱动与测量模块，分别对应连接至该耳机测试电路、手机开机控制电路、SIM卡通断控制电路和/或键盘背光驱动与测量电路。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，还包含一联合测试行动组电路，依据IEEE1149.1协议连接至该高速可编程逻辑器件及一下载器，其中，该联合测试行动组电路中的联合测试行动组芯片与该高速可编程逻辑器件连接。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，还包含一电源，连接至该转接板。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该耳机测试电路包括一第一电阻，该耳机测试电路的耳机MIC的测试点经过该第一电阻连接至该高速可编程逻辑器件。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该手机开机控制电路包括一与被测试手机的开机键连接的芯片；该SIM卡通断控制电路包括与一被测试手机的SIM卡连接的芯片；该键盘背光驱动电路包括通过电阻连接至被测手机的键盘背光电源的芯片。

上述的一种手机单板测试装置，其特征在于，该键盘背光测量电路包括：一NPN型三极管及多个电阻，该三极管的基极通过一电阻连接至该高速可编程逻辑器件，该三极管的集电极连接至被测手机的手机键盘背光电源，该三极管的发射极连接至该被测手机的背光测量点并通过另一电阻接地。