[实用新型]材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪无效

专利信息
申请号: 200720173751.9 申请日: 2007-10-23
公开(公告)号: CN201141843Y 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 叶丰;刘武华;林均品;王艳丽;黄妹婷;陈国良 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16;G01B11/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 材料 热膨胀 光束 激光 干涉 测量仪
【权利要求书】:

1.一种材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪,主体部分由SIOS-SP120D激光干涉仪(8)、高真空加热炉(1)、rbhS104调理板(9)、rbh8223h数据采集卡(11)、恒流微机电源(10)与计算机(12)组成,其特征在于:SIOS-SP120D激光干涉仪(8)设有He--Ne激光发射盒(6),并安装在高真空加热炉一侧,He--Ne激光发射盒(6)下方安装升降平台(7),高真空加热炉(1)炉壁一端设有玻璃窗口(5)正对着激光发射盒(6),高真空加热炉炉内放置被测样品(3)的一侧安置一K型热电偶(4),热电偶(4)与rbhS104调理板(9)相连后再与rbh6223h数据采集卡(11)相连,rbh6223h数据采集卡(11)和SIOS-SP120D激光干涉仪(8)同时与计算机(12)相连。

2.如权利要求1所述的材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪,其特征在于:激光发射口距离玻璃窗口(5)为45mm-55mm。

3.如权利要求1所述的材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪,其特征在于:高真空加热炉(1)中部安装样品夹具(2),样品夹具(2)与激光发射盒(6)的激光发射口相距在60-150mm。

4.如权利要求1所述的材料热膨胀性双光束激光干涉测量仪,其特征在于:恒流微机电源(10)与rbhS104调理板(9)相连。

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