[实用新型]测量仪器改良结构有效
申请号: | 200720179186.7 | 申请日: | 2007-12-29 |
公开(公告)号: | CN201152738Y | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 徐春云 | 申请(专利权)人: | 徐春云 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 东莞市创益专利事务所 | 代理人: | 李卫平 |
地址: | 523079广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 仪器 改良 结构 | ||
技术领域:
本实用新型涉及测量技术,特指一种测量仪器改良结构。
背景技术:
随着测量技术的发展,各种测量仪器也随之产生。图1所示为现有技术中其一用于平面长度测量的测量仪器示意图,具有一可线性移动的测量用镜头,该镜头可捕捉测量点并将可测量点的图像信息反馈给微电脑,从而方便使用者在微电脑上进行坐标换算测量,微电脑可控制镜头进行目标捕捉。为了配合镜头线性移动测量,且也方便使用者准确将被测物放置于工作台上用于测量,现有做法是在机架适当位置设置光源,由光源发出光束照射到工作台台面,由此获得一条光线作为被测物的基准线。然而,由于光线较粗,线体稳定性不强,且要求工作台为聚光材质,加工制作成本高,使用也不很方便,实用性不高。
发明内容:
本实用新型的目的在于提供一种结构简单,方便使用,且便于加工制作,稳定性好的测量仪器改良结构。
为达到上述目的,本实用新型采用如下技术方案:
测量仪器改良结构,包括可线性移动的数码镜头及架设镜头的机架,数码镜头电性连接微电脑,并由微电脑控制移动,在镜头下方的工作台上刻制或绘制一基准线,基准线与镜头的移动线平行,且基准线位于镜头的正下方。
于基准线上设置一基准点,基准线为直接刻制或绘制于工作台台面上,也可刻制或绘制于附加在工作台上的面板。
微电脑配有参数输入平台。
本实用新型是在工作台上刻制或绘制一基准线,被测量物可直接参照该基准线放置,基准线清晰,稳定性好,可加快测量速率,测量准确性好。
本实用新型另一优点是在基准线上设有基准点,方便使用者快速将被测物的测量起点对应基准点设置,而镜头又可依据基准点作为移动的起点,可一步性根据输入的估算值移动到另一测量点的附近,也有效提高测量速度。
本实用新型再一优点是结构简单,加工制作简便,实用性强。
附图说明:
附图1为现有技术结构示意图;
附图2为本实用新型结构示意图;
附图3为本实用新型测量示意图。
具体实施方式:
以下结合附图对本实用新型进一步说明:
见附图2、3所示,本实用新型所述的测量仪器,主要包括可线性移动的数码镜头10及架设镜头的机架20,数码镜头10电性连接微电脑,并由微电脑控制移动,微电脑配有参数输入平台,方便使用者输入有关参数。在镜头10下方的工作台30上刻制或绘制一基准线41,基准线41与镜头10的移动线平行,且基准线41位于镜头10的正下方。刻制加工时,基准线41为一线槽体。
基准线41方便被测物对应放置(如测量照相机之胶片长度等),保证被测物的测量点在基准线41上,这样,镜头10线性移动时可较为方便的找到测量点,并由镜头10捕捉、摄像后反馈到微电脑上,使用者在微电脑上进行测量即可。本实用新型的基准线41清晰、稳定性好,可加快测量速率,提高测量准确性。
本实施例中,在基准线41上还设置一基准点O,这样,使用者可将被测物的其一测量点(起点)对准基准点O,且顺着基准线41拉直,该结构可方便使用者快速找准位置,由此提高测量速度。此外,镜头10可依据基准点O作为移动的起点,可一步性根据输入的估计值移动到被测物的另一测量点附近,速度快、准确。
本实用新型主要是用于直线性的长度测量,其基准线41可直接刻制或绘制于工作台30台面上,也可直接刻制或绘制于附加在工作台上的面板40上,面板40可采用一般材质制作,可为透光或不透光材质,因而,制作上成本相对降低。基准线41线迹清晰,粗细均匀,提高测量准确性,使用方便,克服现有技术之光线的不足。
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