[实用新型]测试电路板

说明书

技术领域

本实用新型相关于测试电路板，尤指一种用来根据一测试机所产生的多个测试信号对一集成电路进行测试的测试电路板。

背景技术

为了确保集成电路(integrated circuit，IC)出货时的品质，在完成制造过程之后，一般都会对每一个IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。

请参阅图1，图1所示为已知技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。在此一测试架构中，是使用测试机(tester)10来作为测试一待测试元件(Device Under Test，DUT)22的工具。其中，待测试元件22可为一待测的集成电路(IC)，而为了测试方便，待测试元件22通常设置于一待测试元件电路板(DUTboard)20上。

然而，测试机10在进行测试时，通常都搭配专属的待测试元件电路板20来进行测试，而且根据不同的待测试元件22，其待测试元件电路板20上的电路也有所不同，待测试元件电路板20上通常包括有一些基本的测试连接端点用以对待测试元件22进行测试，例如：电源端(DPS)、继电器控制端(RELAYCONTROL)、通道端(CHANNEL)、CBIT端、万用孔等等。而，上述的测试连接端点皆是凌乱的散布于待测试元件电路板20的四周，因此制作待测试元件电路板20是相当麻烦的，不仅耗费时间又耗费人力，而且在制作时，有可能会因为将复杂的连接线错误连接而导致必须浪费额外的时间进行除错。此外，当要对不同的待测试元件22进行测试时，必须将相对应于该待测试元件22的专属电路设置在待测试元件电路板20上，此种方式不仅会耗费人力以及时间，相对的亦会提升对待测试元件进行测试所需的成本。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种可提升芯片测试的便利性以及降低测试成本的测试电路板，以解决已知技术所面临的问题。

本实用新型提供一种测试电路板，用来置放一待测试元件，并根据一测试机所产生的多个测试信号对该待测试元件进行测试，该测试电路板包括有一电路基板以及多组基座。电路基板设置有多个插孔。多组插槽设置于该多个插孔上，该多组插槽通过多个连接接口电连接于该待测试元件，多组插槽用以传递该多个测试信号以进一步对该待测试元件进行测试。

本实用新型所述的测试电路板，该电路基板为一印刷电路板。

本实用新型所述的测试电路板，该电路基板上另设置有一乘载板，该乘载板用以乘载该待测试元件。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板设置有多个拴锁孔，该电路基板上则设置有多个拴锁基座，该多个拴锁孔相对应于该多个拴锁基座而设置，其中该乘载板通过该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔锁固于该电路基板。

本实用新型所述的测试电路板，该多个拴锁基座以及该多个拴锁孔通过多个拴锁柱相互锁固。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板另设置有多组连接槽，该多组连接槽相对应于该多组插槽而设置，该待测试元件通过该乘载板的该多组连接槽电连接于该多组插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该乘载板的该多组连接槽通过该多个连接接口电连接于该多组插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该多个连接接口分别为一总线。

本实用新型所述的测试电路板，该待测试元件为一集成电路(Integrated Circuit，IC)。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组电源插槽，该至少一组电源插槽耦接于一电源供应模块，该电源供应模块用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的电源，而该至少一组电源插槽用以传递该电源。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组通道插槽，该至少一组通道插槽用以提供该测试机对该待测试元件进行测试时所需的信号通道。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组控制插槽，该测试机所产生的该多个测试信号中则包括有多个控制信号，而该至少一组控制插槽用以传递该多个控制信号以对该待测试元件进行测试。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一组控制插槽为继电器控制端插槽。

本实用新型所述的测试电路板，该多组插槽包括有至少一组CBIT插槽，该多个测试信号中包括有多个CBIT测试信号，该至少一组CBIT插槽用以传递该多个CBIT测试信号以对该待测试元件进行CBIT测试。

本实用新型所述的测试电路板，可有效的节省测试所需的时间，更可提升测试效率。

附图说明