[实用新型]曲面压电晶片研磨装置无效
申请号: | 200720184538.8 | 申请日: | 2007-10-22 |
公开(公告)号: | CN201151076Y | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 王祖勇 | 申请(专利权)人: | 王祖勇 |
主分类号: | B24B19/26 | 分类号: | B24B19/26;B24B49/10 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人: | 王学东 |
地址: | 310012浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 曲面 压电 晶片 研磨 装置 | ||
1.一种曲面压电晶片研磨装置,包括下磨盘(1),晶片托架(2),其特征在于:还包括晶片研磨控制仪(8),所述的下磨盘(1)和晶片托架(2)为导电金属制作而成,所述的下磨盘(1)连接所述的晶片研磨控制仪(8)的探头的下电极端,所述的晶片托架(2)连接所述的晶片研磨控制仪(8)的探头的上电极端,所述的晶片研磨控制仪(8)的探头的接地极接地。
2.根据权利要求1所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:还包括上电极(5)和在所述的上电极(5)外壁上的绝缘防护层(6),所述的晶片托架(2)的中心有一个通透的直径略大于晶片(3)的直径的轴向中心孔(4),所述的上电极(5)和绝缘防护层(6)插入所述的轴向中心空(4)中,所述的晶片研磨控制仪(8)的探头的上电极端与所述的上电极(5)连接。
3.根据权利要求1或2所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:所述的上电极(5)使用铜制作而成,所述的下磨盘(1)使用铸铁制成,所述的晶片托架(2)使用铁制成。
4.根据权利要求2所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:所述的轴向中心孔(4)的直径略大于所述的绝缘防护层(6)的直径。
5.根据权利要求2或4所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:所述的绝缘防护层(6)是绝缘护套。
6.根据权利要求2所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:还包括在所述绝缘防护层(6)外壁上的金属防护层(7),所述的轴向中心孔(4)的直径略大于所述的金属防护层(7)的直径。
7.根据权利要求6所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:所述的金属防护层(7)是金属护套。
8.根据权利要求6或7所述的曲面压电晶片研磨装置,其特征在于:所述的金属防护层(7)所使用的材料是铁。
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