[实用新型]一种用于高反射率测量的计算机测控系统

权利要求书

1、一种用于高反射率测量的计算机测控系统，它包括：光源(1)、空间滤波和望远系统(2)、平凹高反镜(3)，(4)、会聚透镜(5)、探测器(6)，其特征在于：它还包括一个具有双输入、双输出功能的高速数据采集卡(7)、计算机(8)；高速数据采集卡(7)经PCI总线与计算机(8)通讯，计算机(8)通过软件控制高速数据采集卡(7)两输出通道A1和A2同步输出方波信号，并设置其两输入通道B1和B2分别工作在触发模式和采集模式下；高速数据采集卡(7)的第一路输出通道A1与光源(1)相连，高速数据采集卡(7)的处于采集模式下的输入通道B2与探测器(6)相连，用于采集第一路输出通道A1输出的方波信号经平凹高反镜(3)，(4)组成的衰荡光腔后出射并经探测器(6)转换后的电信号；高速数据采集卡(7)的第二路输出通道A2输出的方波信号作为触发信号，与高速数据采集卡(7)处于触发模式下的输入通道B1相连。

2、根据权利要求1所述的一种用于高反射率测量的计算机测控系统，其特征在于：未插入待测平面高反镜(9)时，平凹高反镜(3)，(4)凹面相对构成直腔；插入待测平面高反镜(9)后，调节平凹高反镜(3)，(4)形成折叠腔。

3、根据权利要求1所述的一种用于高反射率测量的计算机测控系统，其特征在于：光源(1)采用连续半导体激光器。

4、根据权利要求1所述的一种用于高反射率测量的计算机测控系统，其特征在于：空间滤波和望远系统(2)由两块透镜和一针孔组成，用于将光源(1)输出的激光束整形成基模并与光腔模式匹配。

5、根据权利要求1所述的一种用于高反射率测量的计算机测控系统，其特征在于：两块相同的、凹面镀高反膜的平凹高反镜(3)，(4)的反射率大于99％。

6、根据权利要求1所述的一种用于高反射率测量的计算机测控系统，其特征在于：插入待测平面高反镜后，形成折叠腔的角度为1°到85°。