[实用新型]一种光学相位延迟精密测量系统

权利要求书

1.一种光学相位延迟精密测量系统，包括激光器、起偏器、光调制器、调制信号源、待测相位延迟器、相位补偿器、检偏器、光探测器、结果输出单元，其特征在于所述激光器发出的光依次经过所述起偏器、光调制器、待测相位延迟器、相位补偿器、检偏器、光探测器、信号处理电路后由结果显示单元显示输出结果，所述调制信号源与所述光调制器通过信号线连接。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于所述光调制器为KD*P晶体电光调制器，调制方式为纵向调制，所述调制信号源为正弦调制信号。

3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于所述调制信号源频率为2kHz，所述信号处理电路滤波频率为4kHz。

4.如权利要求1所述的系统，其特征在于所述相位补偿器为索累补偿器。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于所述索累补偿器的入射面晶体楔装有微动螺旋，通过调节所述微动螺旋使之相对入射面做平行移动。