[发明专利]编码器信号的相位校正电路有效

专利信息
申请号: 200780000043.8 申请日: 2007-03-28
公开(公告)号: CN101213423A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 岸部太郎;增田隆宏;田上博三 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01D5/244 分类号: G01D5/244
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 编码器 信号 相位 校正 电路
【权利要求书】:

1.一种编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

在具备将具有90度相位差的A相和B相的正弦波信号变换成数字数据生成A1信号和B1信号的AD转换部、检测所述A1信号和所述B1信号的峰值的峰值检测器、用由所述峰值检测器检测出的所述峰值对偏差和振幅误差进行校正生成A2信号和B2信号的偏差/振幅校正部、和将所述A相和所述B相的所述正弦波信号变换成位置数据的位置数据转换部的位置检测器中,包括,

检测所述A2信号和所述B2信号的交点值的相位误差检测器、和从由所述相位误差检测器检测出的交点值计算所述A2信号和所述B2信号的校正系数的相位校正部,

所述相位校正部,将所述校正系数与所述A2信号和所述B2信号相乘生成A校正信号和B校正信号,再将所述B校正信号加在所述A2信号上,将所述A校正信号加在所述B2信号上,由此,对所述A相和所述B相的相位误差进行校正。

2.根据权利要求1所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

所述相位误差检测器,在所述相位误差检测器检测出所述A1信号的所述峰值的点,检测所述B2信号的值,在检测出所述B1信号的所述峰值的点,检测所述A2信号的值。

3.根据权利要求1所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

所述相位校正部,求得根据所述A2信号和所述B2信号的所述交点值计算得到的所述校正系数、和由所述相位误差检测器根据所述A2信号或所述B2信号符号反转后的信号与所述B2信号或所述A2信号的交点值进行计算得到的符号反转后的校正系数,对所述两个校正系数进行平均处理,加以使用。

4.根据权利要求2所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

所述相位校正部,在所述相位误差检测器检测出所述A2信号或所述B2信号的最大值的点,检测所述B2信号或所述A2信号的值,计算所述校正系数,在检测出所述A2信号或所述B2信号的最小值的点,检测所述B2信号或所述A2信号的值进行符号反转,计算校正系数,对分别求得的所述校正系数进行平均处理,加以使用。

5.根据权利要求1所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

所述相位校正部,从所述A2信号或所述B2信号的所述交点值检测相位的超前滞后,在所述相位误差检测器检测出与所述A2信号或所述B2信号的零的交点的点检测所述B2信号或所述A2信号的值,计算所述校正系数。

6.跟据权利要求2所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

所述相位校正部,在检测出所述A2信号或所述B2信号的最大值或最小值的点从所述B2信号或所述A2信号的值检测相位的超前滞后,在所述相位误差检测器检测出与所述A2信号或所述B2信号的零的交点的点检测所述B2信号或所述A2信号的值,计算所述校正系数。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的编码器信号的相位校正电路,其特征在于:

从由所述相位误差检测器检测出的相位误差计算振幅校正系数,对由所述相位校正部所校正的所述A相和所述B相的所述正弦波信号的振幅进行校正。

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