[发明专利]复合氮化物半导体结构的外延成长有效
申请号: | 200780000365.2 | 申请日: | 2007-04-11 |
公开(公告)号: | CN101317247A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | S·尼杰哈瓦;D·布尔;L·华盛顿;J·史密斯;R·斯蒂文斯;D·埃格莱希姆 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;C30B35/00;H01L33/00;C23C16/30;C30B25/02;C23C16/54;C30B29/40 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合 氮化物 半导体 结构 外延 成长 | ||
技术领域
本发明是有关于复合氮化物半导体结构的外延成长。
背景技术
发光二极管(LED)的沿革有时描绘成“爬升光谱(crawl up thespectrum)”。此是因首度商业化的LED产生光谱中红外线部分的光线,接着发展出使用磷化砷镓(GaAsP)于砷化镓(GaAs)基材上的红光LED。其次为效率较高的磷化镓(GaP)LED,其可同时制造较亮的红光LED和橘光LED。改进GaP LED后则发展出绿光LED,其采用双GaP芯片(一为红光,另一为绿光)来产生黄光。利用磷化砷铝镓(GaAlAsP)材料和磷化铝镓铟(InGaAlP)材料可进一步增进此光谱部分的效率。
因发射光波长较短的LED可提供宽的光谱范围,又因制造发射光波长较短的二极管可增加诸如光盘只读存储器(CD-ROM)等光学装置的信息储存量,故其发展一般倾向制造可提供较短波长光线的LED。借着开发氮化物为基础(nitride-based)的LED,尤其是使用氮化镓(GaN),可大量制造光谱中蓝光、紫光、和紫外光部分的LED。尽管先前已使用碳化硅(SiC)材料成功制造出蓝光LED,然此类装置的电子结构具有间接能隙,因而发光性不佳。
虽然数十年已知使用GaN可发出光谱中的蓝光,但实际制造上仍有许多障碍。障碍包括缺少合适的基材来生成GaN结构于其上、GaN生长通常需要高热条件,导致各种热传问题产生、及难以有效p型掺杂此类材料。由于蓝宝石约有15%的晶格与GaN不相配,因此采用蓝宝石做为基材并不完全符合要求。许多研发依然相继致力克服这些障碍。例如,采用金属有机气相法形成的氮化铝(AlN)或GaN缓冲层已发现可有效解决晶格不相配的问题。进一步改进GaN基础结构的方法包括使用AlGaN材料形成具有GaN的异质接面,且特别是使用氮化镓铟(InGaN)材料,如此可产生当作量子井的缺陷,用以有效发射短波长的光线。富含铟的区域具有比周围材料小的能隙,且可分布于整个材料而可提供高效率的发射中心。
尽管复合氮化物半导体装置的制作已有若干改善,然目前制程仍有许多不足。再者,因产生短波长光线的装置的利用率高,故亦热切需要制造此类装置。有鉴于此,此技艺普遍需要制造复合氮化物半导体装置的改善方法及系统。
发明内容
本发明的实施例提出制造复合氮化物半导体结构的设备及方法。第一III族前驱物和第一氮前驱物流入第一处理室。第一III族前驱物包含第一III族元素。第一层通过在第一处理室中利用第一III族前驱物与第一氮前驱物的热化学气相沉积制程沉积在基材上,如此第一层包含氮和第一III族元素。沉积第一层后,基材从第一处理室传送到不同于第一处理室的第二处理室。第二III族前驱物和第二氮前驱物流入第二处理室。第二III族前驱物包含第一III族前驱物不含的第二III族元素。第二层通过在第二处理室中利用第二III族前驱物与第二氮前驱物的热化学气相沉积制程沉积在第一层上。
可在不同的条件下将基材从第一处理室传送到第二处理室。例如在一实施例中,是在含有90%以上氮气(N2)的氛围下进行传送;在另一实施例中,是在含有90%以上氨气(NH3)的氛围下进行传送;在又一实施例中,是在含有90%以上氢气(H2)的氛围下进行传送。基材亦可在温度大于200℃的氛围下进行传送。
前驱物的流入可伴随引进载气,例如包括氮气(N2)和氢气(H2)。在一实施例中,第三III族前驱物流入具有第二III族前驱物和第二氮前驱物的第二处理室。第三III族前驱物包含第一III族元素。III族元素的使用例子包括第一III族元素采用镓且第二III族元素采用铝,如此形成的第一层包含GaN层,第二层包含AlGaN层。在另一特定实施例中,第一III族元素为镓且第二III族元素为铟,如此形成的第一层包含GaN层,第二层包含InGaN层。在又一特定实施例中,第一III族元素为镓且第二III族元素包括铝与铟,如此形成的第一层包含GaN层,第二层包含AlInGaN层。
在沉积第二层前,过渡层有时可于第二处理室内沉积至第一层上。过渡层的化学组成实质上同于第一层,且厚度小于100000埃。第一处理室有助于包含氮与III族元素的材料快速成长。第二处理室有助于增进含有氮与III族元素的沉积材料的均匀度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造