[发明专利]用于确定非线性特性的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定被测设备(40)的非线性特性的方法，所述方法包括步骤：

-在不同终端条件下在所述设备(40)的相关终端处将测试信号供给所述设备(40)；

-在所述测试信号的基频和至少一个谐频处测量在所述设备(40)的所述相关终端处得到的信号；

-执行校准测量以得到修正参数；

-使用所述修正参数以针对由所述测试设备(40)不会导致的结果来修正在所述测量步骤b)中测得的原始数据；和

-从所述被修正的原始数据中提取散射或导纳参数中的至少一个，并使用所述被提取的参数来确定所述设备(40)的所述非线性特性。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述修正步骤d)适于修正在所述测试信号的信号源(10)和在所述测量步骤b)中使用的测量设备(22，24，32，34)中的至少一个所产生的谐波。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中所述修正步骤d)包括在不同负载条件和不同调谐器设置的至少一种情况下对在所述测量步骤b)中测得的谐波进行分析的步骤。

4.如前述任一个权利要求所述的方法，其中所述修正步骤d)是基于在正向和反向的所述测试信号的信号源(10)中的至少一个和测量设备(32，34)中的至少一个处的散射参数S₂₁₁和S₂₁₁₁中的至少一个。

5.如权利要求4所述的方法，其中所述修正步骤d)是基于从所述信号源(10)的散射参数S₂₁₂和S₂₂₂中所选出的至少一个附加参数。

6.如权利要求4或5所述的方法，其中使用最小二乘残差拟合从超定方程组中提取所述修正参数。

7.如前述任一个权利要求所述的方法，其中使用最小二乘残差拟合从超定方程组中提取期望的非线性设备的散射或导纳参数。

8.如前述任一个权利要求所述的方法，其中所述被测设备(40)是射频或微波设备。

9.一种用于确定被测设备(40)的非线性特性的装置，所述装置包括：

-信号发生装置(10)，用于在不同终端条件下在所述设备(40)的相关终端处把测试信号供给所述设备(40)；

-测量装置(32，34)，用于在所述测试信号的基频和至少一个谐频处对在所述设备(40)的所述相关终端处得到的信号进行测量；

-校准装置(100)，用于执行校准测量以得到修正参数；

-修正装置(100)，用于使用所述修正参数以针对由所述测试设备(40)不会导致的结果来对由所述测量装置(32，34)测得的原始数据进行修正；和

-提取装置(100)，用于从所述被修正的原始数据提取散射或导纳参数中的至少一个，并使用所述被提取的参数来确定所述设备(40)的所述非线性特性。

10.如权利要求9所述的装置，其中所述信号发生装置(10)被配置来向所述设备(40)供给在不同激励频率处的测试信号，其中提供了混频装置以产生供给参考接收器(22，24)的在和频或差频处的参考信号，并且其中所述校准、修正和提取装置(100)被配置来针对多个非谐波相关的激励频率确定所述设备(40)的所述非线性特性。