[发明专利]跟踪方法以及配有激光跟踪仪的测量系统有效

专利信息
申请号: 200780002284.6 申请日: 2007-01-04
公开(公告)号: CN101371160A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: J·多尔德;D·莫瑟;R·朱姆布伦 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: G01S17/66 分类号: G01S17/66;G01C15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 卢江;魏军
地址: 瑞士希*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 跟踪 方法 以及 配有 激光 测量 系统
【权利要求书】:

1.跟踪方法,其中由激光跟踪仪(10)的测量光束(M)来跟踪配有反射 器(12)的目标点;其中在正常跟踪模式(A)下,根据对由反射器(12)所反 射的测量光束的探测得出用于控制测量光束(M)定向的测量参量,其中,另 外在异常跟踪模式(B)下根据由环视装置(13)所记录的数据得出用于控制测 量光束(M)定向的测量参量,其中所述环视装置(13)具有相对于测量光束 (M)已知的位置和取向,并且其中如果没有探测到由反射器(12)所反射的测 量光束,则激活异常跟踪模式(B),其中在异常跟踪模式(B)下,根据从由 环视装置(13)所记录的数据中所确定的朝向目标点的方向,并且根据环视装 置(13)的已知的位置和取向来计算用于控制测量光束(M)定向的测量参量, 其特征在于,所述环视装置(13)是环视摄像机,并且由环视摄像机所记录的 数据是图像坐标。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,一旦跟踪仪(10)没有探测 到所反射的测量光束,则自动切换到异常跟踪模式(B)。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在异常跟踪模式(B) 下通过跟踪仪(10)监视所反射的测量光束的探测,并且一旦探测到所反射的 测量光束,就自动切换到正常跟踪模式(A)。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,另外也通过环视摄像机来识 别目标点。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据围绕反射器(12)布置 的多个光点(16)或者反射标记元件的映射来识别在环视摄像机(13)的图像 (20)上的目标点。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,通过确定围绕反射器(12) 布置的光点(16)或者标记元件的映射的光学中心来确定图像坐标。

7.根据权利要求1或2中任一项所述的方法,其特征在于,环视装置(13) 的光轴(O)的定向固定地与测量光束(M)的定向相耦合。

8.测量系统,包括激光跟踪仪(10)、具有反射器(12)的目标点以及计 算和控制单元(14);在所述测量系统中,在正常跟踪模式(A)下,由激光跟 踪仪(10)所发射的测量光束(M)跟踪反射器(12);其中配置有计算和控 制单元(14),以便根据对由反射器(12)所反射的测量光束的探测来控制测 量光束(M)的相应定向,其中,所述测量系统还具有环视装置(13),该环 视装置以相对于测量光束(M)已知的位置和取向的方式来布置;并且还配置 有计算和控制单元(14),以便在异常跟踪模式(B)下,根据由环视装置(13) 所生成的数据和环视装置(13)的已知的位置和取向来控制测量光束(M)的 定向,其特征在于,所述环视装置(13)是环视摄像机并且由环视摄像机所生 成的数据是图像坐标。

9.根据权利要求8所述的测量系统,其特征在于,所述环视装置(13)布 置于激光跟踪仪(10)处,使得其光轴(O)的定向与测量光束(M)的定向相 耦合。

10.根据权利要求9所述的测量系统,其特征在于,所述环视装置(13) 布置在激光跟踪仪(10)处,使得其光轴(O)始终与测量光束(M)同轴或平 行。

11.根据权利要求8~10中任一项所述的测量系统,其特征在于,目 标点布置于用手操作的触摸工具或者扫描器上。

12.根据权利要求8~10中任一项所述的测量系统,其特征在于,围 绕布置于目标点中的反射器(12)布置有多个光点(16)或者反射标记元件; 并且配置有计算和控制单元(14)或者环视装置(13),以便根据光点(16) 或者标记元件的布置来确定朝向反射器(12)的方向。

13.根据权利要求8~10中任一项所述的测量系统,其特征在于,配 置环视装置(13)用以识别目标点。

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