[发明专利]光盘装置、光盘装置的控制方法以及集成电路有效

专利信息
申请号: 200780003600.1 申请日: 2007-01-25
公开(公告)号: CN101375331A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 藤畝健司;菊池淳 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/095 分类号: G11B7/095
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光盘 装置 控制 方法 以及 集成电路
【权利要求书】:

1.一种光盘装置,其包括:

使光盘旋转驱动的旋转驱动部;

将利用与所述旋转驱动部的转速相关的信号而得到的信息作为所述光盘的旋转相位进行检测的旋转相位检测部;

具有使光束聚光在所述光盘上的聚光部的光头;

将所述聚光部的在所述光头内的位置作为位置信号进行检测的透镜位置检测部;

与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步,对与该检测出的旋转相位对应的来自所述透镜位置检测部的所述位置信号进行存储的透镜位置存储部;

与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步,将所述透镜位置存储部存储的、所述透镜位置检测部已经检测出的位置信号,作为校正信号输出的输出部;

通过取得所述透镜位置检测部检测出的位置信号和所述校正信号之间的差分,来对所述位置信号进行校正的透镜位置校正部;

使用来自所述透镜位置校正部的信号生成驱动信号,并基于此使所述聚光部在所述光盘的半径方向移动的偏芯校正部;和

减少所述校正信号、所述透镜位置校正部的输出信号或所述驱动信号的任一个的高频成分的高频成分减少部。

2.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

所述高频成分减少部具有低通滤波器。

3.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

所述高频成分减少部,对输入的信号进行微分,并以规定电平对最大值或最小值的至少一个进行限制。

4.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

所述高频成分减少部,对输入的信号进行线性插补。

5.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于:

所述输出部,以与高频成分减少部的延迟时间对应的相位差输出所述校正信号。

6.一种集成电路,其将权利要求1所述的光盘装置的下述各部分一体地形成在同一半导体基板上,所述各部分是指:

将利用与所述旋转驱动部的转速相关的信号而得到的信息作为所述光盘的旋转相位进行检测的旋转相位检测部;与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步,对与该检测的旋转相位对应的来自所述透镜位置检测部的所述位置信号进行存储的透镜位置存储部;与所述旋转相位检测部检测的旋转相位同步,将所述透镜位置存储部存储的、所述透镜位置检测部已经检测出的位置信号,作为校正信号输出的输出部;通过取得所述透镜位置检测部检测出的位置信号和所述校正信号之间的差分,来对所述位置信号进行校正的透镜位置校正部;使用来自所述透镜位置校正部的信号生成驱动信号,并基于此使所述聚光部在所述光盘的半径方向移动的偏芯校正部;和减少所述校正信号、所述透镜位置校正部的输出信号或所述驱动信号的任一个的高频成分的高频成分减少部。

7.一种光盘装置的控制方法,其具备:

使光盘旋转驱动的工序;

将利用与所述旋转驱动的所述光盘的转速相关的信号而得到的信息作为所述光盘的旋转相位进行检测的工序;

将具有使光束聚光在所述光盘上的聚光部的光头内的所述聚光部的位置作为位置信号进行检测的工序;

与检测的旋转相位同步,对与该检测的旋转相位对应的由所述工序检测出的所述位置信号进行存储的工序;

与检测的旋转相位同步,将存储的已经检测出的位置信号作为校正信号输出的工序;

通过取得检测出的所述位置信号和所述校正信号之间的差分,来对所述位置信号进行校正的工序;

使用被校正的所述位置信号生成驱动信号,并基于此使所述聚光部在所述光盘的半径方向移动的工序;和

减少所述校正信号、对所述位置信号进行校正的所述工序的输出信号或所述驱动信号的任一个的高频成分的工序。

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