[发明专利]工具检测

权利要求书

1.一种物体检测设备，包括:

壳体；

设置在所述壳体内的光源和光检测器，所述光源向所述光检测器发射光束；

所述壳体具有基部，所述基部设置有基准表面，其中，所述光束相对于所述基准表面具有限定的距离和角度。

2.如权利要求1所述的物体检测设备，其特征在于，所述光源和所述光检测器之间的光路径基本上平行于所述基准表面。

3.如前述权利要求中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，所述光源是LED。

4.如权利要求3所述的物体检测设备，其特征在于，所述LED具有焊线，并安装成使得所述焊线处于不遮挡光路径的位置。

5.如前述权利要求中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，所述光源为脉冲式。

6.如权利要求5所述的物体检测设备，其特征在于，所述光检测器也是脉冲式的，并且与所述光源的脉冲同步。

7.如前述权利要求中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，在所述光源的前方设置有球形透镜。

8.如前述权利要求中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，所述光检测器是光敏元件阵列。

9.如权利要求8所述的物体检测设备，其特征在于，所述阵列包括线性阵列。

10.如权利要求9所述的物体检测设备，其特征在于，所述线性阵列是CMOS传感器。

11.如权利要求1所述的物体检测设备，其特征在于，所述基准表面是所述壳体基部的平坦表面。

12.一种物体检测设备，所述设备包括光源和光检测器，所述光源向所述光检测器发射光束；

其中，所述光检测器包括光敏元件阵列；

并且其中，所述设备具有第一操作模式和第二操作模式，在第一操作模式下，第一组光敏元件进行操作，而在第二操作模式下，第二组光敏元件进行操作。

13.如权利要求12所述的物体检测设备，其特征在于，所述第二组光敏元件是所述第一组光敏元件的子集。

14.如权利要求12或13所述的物体检测设备，其特征在于，所述第一组光敏元件包括该阵列中的全部元件。

15.如权利要求12至14中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，所述第二组元敏元件包括该阵列中的单个元件。

16.如权利要求12至15中任一项所述的物体检测设备，其特征在于，当所述光检测器接收到一个设定的光强阈值时，输出信号，所设定的阀值对于第一操作模式和第二操作模式而言不相同。

17.一种校准物体检测设备的方法，所述设备包括光源和光检测器，所述光检测器包括光敏元件阵列，所述光源向所述光检测器发射光，所述方法包括以任何适当顺序排列的以下步骤:

当光源和检测器之间不存在物体时，测量入射到该阵列每个单个元件上的光强；

计算在每个元件上测量的光强值的预定百分比；和

将每个元件的所述百分比值设置为该元件的阈值。

18.如权利要求17所述的校准物体检测设备的方法，其特征在于，所述方法具有附加步骤:

比较每个光敏元件的输出与该元件的阈值输出；

当任何一个元件的光强低于其阈值时，产生信号来表示。

19.一种用于物体检测设备的适配器，所述设备通过遮挡光路径来检测物体的存在，所述适配器包括:

壳体；和

安装在壳体内并可以相对该壳体移动的柱塞；

作用在所述柱塞上的偏置装置；

所述柱塞具有一个表面，可以将物体推靠在所述表面上，以便逆着所述偏置装置的偏置力而相对于所述壳体移动所述柱塞。

20.如权利要求19所述的用于物体检测设备的适配器，其特征在于，所述壳体配置成使得所述适配器可以安装在物体检测设备的光路径中而不遮挡所述光路径。