[发明专利]具有遮光机构的分析装置

权利要求书

1.一种具有遮光机构的分析装置，其中，

包括：

安装部，其具有插入口，并且用于安装分析用具；

测光机构，其为了通过光学的手法进行试料的分析，而对所述分析用具进行光照射，并用于对从所述分析用具行进而来的光进行受光；

遮光机构，其用于限制来自所述插入口的外部光的入射，

所述遮光机构，构成为，在从所述分析用具针对所述安装部的的插入开始起到在所述测光机构中所述分析用具的测光结束的期间，限制通过所述插入口的外部光的入射。

2.根据权利要求1所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

遮光机构具有在将所述分析用具安装在所述安装部的状态下用于与所述分析用具接触的接触构件。

3.根据权利要求2所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件具有与所述分析用具接触并且能够沿上下方向变位的遮光部。

4.根据权利要求2所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件具有用于通过所述遮光部对所述分析用具作用按压力的板簧部。

5.根据权利要求3所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

其构成为，从容纳多个分析用具的盒体取出分析用具并使用该分析用具进行试料的分析，并且，还具有：

操作体，其能够相对于筐体相对地往返移动；

可动体，其能够与所述操作体的往返移动联动，而在待机位置和能从所述盒体取出分析用具的取出位置之间往返移动，并且与所述盒体中收置的分析用具配合，从所述盒体取出分析用具，把该分析用具的至少一部分收置在所述筐体的内部，

所述遮光部通过所述可动体的移动，跨到所述可动体上，从而把位置变位到上方。

6.根据权利要求5所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述可动体具有：在所述遮光部跨上时用于与所述遮光部接触的、越向所述分析用具的插入方向位置越提高的引导面。

7.根据权利要求5所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述遮光部与所述引导面接触的部分为倾斜面或曲面。

8.根据权利要求3所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件以所述遮光部转动的方式构成。

9.根据权利要求8所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述遮光部被弹压向按压所述分析用具的方向。

10.根据权利要求9所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述遮光部通过弹性构件，被弹压向按压所述分析用具的方向。

11.根据权利要求2所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件包含在所述插入口的内部或邻接所述插入口的部位配置的橡胶状弹性体或发泡体。

12.根据权利要求11所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件具有所述分析用具所插通的贯通空间。

13.根据权利要求12所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述贯通空间中，与所述分析用具的插入方向正交的正交方向的至少一部分的截面积设定为比所述分析用具的所述正交方向的截面积更小。

14.根据权利要求13所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述贯通空间形成为所述正交方向的截面积沿着所述插入方向减小的锥形状。

15.根据权利要求11所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述接触构件具有插入所述分析用具的缺口。

16.根据权利要求1所述的具有遮光机构的分析装置，其特征在于，

所述测光机构包含：发光元件；为了监视从发光元件出射的光的输出而被利用的第一受光元件；以及对从所述发光元件出射的光中透过所述分析用具的光进行受光的第二受光元件。