[发明专利]用于光学测距的装置无效
申请号: | 200780009991.8 | 申请日: | 2007-02-12 |
公开(公告)号: | CN101405613A | 公开(公告)日: | 2009-04-08 |
发明(设计)人: | U·斯库特蒂-贝茨;B·哈斯;J·斯蒂尔;P·沃尔夫;K·伦茨 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 赵 辛 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 测距 装置 | ||
1.一种用于光学测距的装置,具有一带有光源(17,18)的发 射单元(12),用于发射光学测量射线(13,20,22)到目标(15), 并且具有一与发射单元(12)的光轴(38)间隔的接收单元(14), 该接收单元具有至少一带有检测面(66)的光学检测器(54),用于 接收由目标(15)返回的光学射线(16,49,50),其特征在于,所 述检测器(54)的检测面(66)具有一光学的近范围元件(68),其 光学有效的表面(72,74)在射线偏移方向(61)上对于变小的目标 距离(48)延长并且在与其正交的方向上至少部分地扩展或者具有基 本恒定的伸长。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测器(54)的 光敏面(66,70,72,74)具有对称轴,该对称轴位于发射单元和接 收单元的光轴(38,51)的公共平面(56)里面。
3.如权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述检测器(54) 的光敏面(66,70,72,74)的伸长至少这样大,使得由具有大的目 标距离的目标(15)返回的射线(16,49)的测量光斑(58)被完全 检测。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测器(54)的 光敏面(66,70,72,74)的伸长在垂直于接收单元(14)的光轴(51) 的方向上至少这样大,使得由在近范围中的目标(15)返回的测量射 线(50)至少部分地还落入到光敏面(72,74)上。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测器(54)的 有效光敏面(66,70,72,74)通过部分地遮盖较大的、光敏的检测 器面(82)构成。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述检测器(54)的 有效光敏面(66,70,72,74)通过在初始较大的光敏检测器面(72) 上部分地涂敷不透光的光学覆层(84)构成。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光源(17,18) 是激光。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述光源(17,18) 发射在对于人眼可见的电磁波光谱的波长范围中的射线。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置是手持装置。
10.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述光源(17,18) 是激光二极管(18)。
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