[发明专利]对于由表面张力保持的多个样本进行光学测量的仪器

权利要求书

1.一种用来对由表面张力包容的众多微升样本进行光学测量的仪器10包括：

用于包容多个微升样本的装置，所述样本由多个供给光纤14的相对近端22和等量多的接收/检测光纤26的近端30之间的表面张力所包容，所述各端是基本平行、间隔开的关系，并在每个相对的纤维端上被弄湿的区域之间建立起柱状的光学路径用来测量信号；

用于向供给纤维14的远端供给光线的装置12；

用于以被间隔的阵列支撑接收/检测纤维26的远端的装置38；

用于横跨接收/检测纤维26被间隔的远端48扫描单独的扫描纤维34的近端的装置32；以及

连接到单独的扫描纤维34远端上的装置36，用于接收通过扫描纤维34传输的信号并在其上进行光学测量。

2.权利要求1的仪器10，其中该测量是分光测量，而且用来进行测量的装置是分光光度计。

3.权利要求1的仪器10，其中该测量使用荧光测定法，而且用来进行测量的装置是荧光计。

4.权利要求1的仪器10，其中接收/检测纤维26远端的被间隔的阵列是线性的，而且用来扫描的装置32是线性的。

5.权利要求1的仪器10，其中接收/检测纤维26远端的被间隔的阵列是环形的，而且用来扫描的装置32是旋转的。

6.权利要求1的仪器10，其中使用一个以上的扫描纤维34、74和一个以上的用来进行测量的装置36、37，从而光学测量在一个以上的接收/检测纤维末端48上同时进行。

7.权利要求6的仪器10，其中具有第一和第二分光光度计36、37而且所述第二分光光度计37测量与第一分光光度计36完全不同的波长范围。

8.权利要求6的仪器10，其中具有第一和第二用来进行测量的装置36、37，而且所述第二用来进行测量的装置37是除分光光度计之外的装置。

9.权利要求8的仪器10，其中第二测量装置37测量荧光性。

10.权利要求1的仪器10，其中多个测量可对不同样本同时进行。

11.权利要求1的仪器10，其中用来包容样本的装置包括固定的下臂24，多个接收/检测纤维26的近端最终稍微溢出该固定下臂24的上表面28，以用作触点30；以及枢轴连接的上臂16，等量多的供给纤维14的近端最终溢出该上臂16的下表面20，以用作相对触点22，所述上臂16可移动到基本关闭的位置上，以展开该样本并弄湿纤维末端的相对触点表面22、30，然后移到所选择的打开更大的位置上，以将该样本拉扯成柱状建立进行光学测量的光学路径，将所述供给纤维14的近端附着到可移动臂16上，而且将所述光纤通过在上臂16以及在固定臂24中的端口13馈送，将供给纤维14的远端附着到用来供给光线的装置12上，将所述装置附着到所述下固定臂24上。